[发明专利]一种绝缘材料热老化实验阶梯升温控制装置

说明书

本发明公开了一种绝缘材料热老化实验阶梯升温控制装置，它涉及绝缘材料用具技术领域；所述PID控制器包含单片机、A/D转换器、RS232串口、驱动电路、RS232串口；所述温箱内部的上下端均安装有加热器，所述热电偶穿接在温箱内，所述热电偶通过导线与PID控制器的A/D转换器电性连接，所述A/D转换器通过导线与单片机电性连接，所述单片机的输出端通过导线与驱动电机电性连接，所述驱动电路通过导线与加热器电性连接，所述计算机通过RS232串口与PID控制器电性连接；本发明提高实验的效率和准确率，同时为企业节省人力，效率高，操作简便。

技术领域

本发明涉及一种绝缘材料热老化实验阶梯升温控制装置，属于绝缘材料用具技术领域。

背景技术

电缆绝缘材料热老化性能是绝缘材料研究所关注的关键问题之一。目前对电缆绝缘材料的热老化实验通常是在恒温温箱中进行，即将测试材料试样直接放入温箱中，温箱设定固定温度，然后对其加热不同的时间，然后将材料试样进行电性能实验。该种方式最大问题在于老化时间长，有的材料甚至需要做长达一年的恒温加热，大大影响材料研发进度，并因实验周期过长且要求连续性，实验过程一旦出现断电或者温箱设备故障将导致整个实验失败，前期工作前功尽弃。近些年，学者研究阶梯升温老化实验方法，可大大缩短热老化的持续时间，提高测试效率。但阶梯升温的实验系统尚不完善，主要是通过人工控制温箱进行升温，一方面浪费人力，另一方面人工控制时间难以准确。

发明内容

针对上述问题，本发明要解决的技术问题是提供一种绝缘材料热老化实验阶梯升温控制装置。

本发明的一种绝缘材料热老化实验阶梯升温控制装置，它包含温箱、加热器、热电偶、PID控制器、计算机；所述PID控制器包含单片机、A/D转换器、RS232串口、驱动电路、RS232串口；所述温箱内部的上下端均安装有加热器，所述热电偶穿接在温箱内，所述热电偶通过导线与PID控制器的A/D转换器电性连接，所述A/D转换器通过导线与单片机电性连接，所述单片机的输出端通过导线与驱动电机电性连接，所述驱动电路通过导线与加热器电性连接，所述计算机通过RS232串口与PID控制器电性连接。

与现有技术相比，本发明的有益效果为：提高实验的效率和准确率，同时为企业节省人力，效率高，操作简便。

附图说明

为了易于说明，本发明由下述的具体实施及附图作以详细描述。

图1为本发明的结构示意图；

图2为本发明中PID控制器的结构示意图；

图3为本发明中在0-20分钟时间内每隔5分钟升温10℃的温度控制曲线示意图。

图中：1-温箱；2-加热器；3-热电偶；4- PID控制器；5-计算机。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明了，下面通过附图中示出的具体实施例来描述本发明。但是应该理解，这些描述只是示例性的，而并非要限制本发明的范围。此外，在以下说明中，省略了对公知结构和技术的描述，以避免不必要地混淆本发明的概念。

如图1-3所示，本具体实施方式采用以下技术方案：它包含温箱1、加热器2、热电偶3、PID控制器4、计算机5；所述PID控制器4包含单片机、A/D转换器、RS232串口、驱动电路、RS232串口；所述温箱1内部的上下端均安装有加热器2，所述热电偶3穿接在温箱1内，所述热电偶3通过导线与PID控制器4的A/D转换器电性连接，所述A/D转换器通过导线与单片机电性连接，所述单片机的输出端通过导线与驱动电机电性连接，所述驱动电路通过导线与加热器1电性连接，所述计算机5通过RS232串口与PID控制器4电性连接。