[发明专利]一种基于SiO2介质微球的超分辨成像方法

权利要求书

1.一种基于SiO₂介质微球的超分辨成像方法，其特征是：利用可见光宽光谱照明，通过匀胶机旋转将SiO₂介质微球放置于待测结构表面，在常规成像显微镜下观察特征尺寸低于半波长的结构细节；通过优化介质微球的浸没方式，显微镜的成像模式和物镜与待测物间距离等参数，不断增强显微成像质量，最终突破衍射极限，实现超分辨成像；利用时域有限差分法,借助仿真软件CST模拟分析介质微球聚焦特性，通过Olympus金相显微成像实验观察139nm结构，从而验证本方法超分辨成像的可行性。

2.根据权利要求1所述的一种基于SiO₂介质微球的超分辨成像方法，其特征是：利用可见光宽光谱照明，通过匀胶机旋转将SiO₂介质微球放置于待测结构表面，在常规成像显微镜下观察特征尺寸低于半波长的结构细节。

3.根据权利要求1所述的一种基于SiO₂介质微球的超分辨成像方法，其特征是：通过优化介质微球的浸没方式，显微镜的成像模式和物镜与待测物间距离等参数，不断增强显微成像质量，最终突破衍射极限，实现超分辨成像。

4.根据权利要求1所述的一种基于SiO₂介质微球的超分辨成像方法，其特征是：利用时域有限差分法，借助仿真软件CST模拟分析介质微球聚焦特性，通过Olympus金相显微成像实验观察139nm结构，从而验证本方法超分辨成像的可行性。

5.根据权利要求1至4任一项所述的一种基于SiO₂介质微球的超分辨成像方法，其特征是：在传统显微镜下即可实现超分辨成像，在不改变成像系统结构的基础下，在待测物体表面放置SiO₂介质微球，通过调节微球浸没方式，显微成像模式等条件便能达到较高超分辨成像质量；但由于微球尺寸的限制，导致成像视场受限，当需要大视场超分辨成像时，还需要后期图像拼接。

6.根据权利要求1至4任一项所述的一种基于SiO₂介质微球的超分辨成像方法，其特征是：通过可见光宽光谱波段照明，本方法能够达到特征尺寸为139nm的结构细节成像，实现了低于半波长的超分辨成像。