[发明专利]测试软件的方法和电子设备在审

专利信息
申请号: 201710554762.X 申请日: 2017-07-07
公开(公告)号: CN107357728A 公开(公告)日: 2017-11-17
发明(设计)人: 孙丰强 申请(专利权)人: 广东中星电子有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 北京布瑞知识产权代理有限公司11505 代理人: 孟潭
地址: 519031 广东省珠海*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 测试 软件 方法 电子设备
【权利要求书】:

1.一种测试软件的方法,包括:

获取并解析测试指令,确定待测试的功能;

基于所述待测试的功能查询所述软件的软件开发工具包SDK,确定与所述待测试的功能关联的待测试的一个或多个SDK;

基于通用的测试用例规范针对所述一个或多个SDK构建一个或多个测试用例,其中,所述测试用例规范使用能够被所述软件的任一SDK解析和执行的语言编写;

调用所述一个或多个SDK执行所述一个或多个测试用例以对所述一个或多个SDK进行测试。

2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述基于通用的测试用例规范针对所述一个或多个SDK构建一个或多个测试用例包括:

获取所述一个或多个SDK的预设字段的内容;

将获取的所述预设字段的内容填充到所述测试用例规范中与所述预设字段对应的位置上以构建与所述一个或多个SDK关联的一个或多个测试用例。

3.根据权利要求1所述的方法,其中,所述基于所述待测试的功能查询所述软件的软件开发工具包SDK,确定与所述待测试的功能关联的待测试的一个或多个SDK包括:

查询所述软件的能力集,其中,所述软件的能力集中包括所述软件支持的各项功能及与所述各项功能关联的SDK;

将查询到的与所述待测试功能关联的一个或多个SDK确定为所述待测试的一个或多个SDK。

4.根据权利要求1所述的方法,其中,所述获取并解析测试指令,确定待测试的功能包括:

响应于测试终端的命令去指定的存储位置获取相应标识符的测试指令,其中,所述命令中至少包括所述测试指令的存储位置和所述测试指令的标识符;

解析所获取的测试指令以确定待测试的功能。

5.根据权利要求1-4中任一项所述的方法,其中,在调用所述一个或多个SDK执行所述一个或多个测试用例以对所述一个或多个SDK进行测试之前,所述方法还包括:

为所述软件赋予初始化的测试环境,所述测试环境包括与所述一个或多个SDK关联的测试环境。

6.一种电子设备,包括:

至少一个处理器;以及,

与所述至少一个处理器通信连接的存储器;

其中,所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令,所述指令被所述至少一个处理器执行,以使所述至少一个处理器能够执行:

获取并解析测试指令,确定待测试的功能;

基于所述待测试的功能查询所述软件的软件开发工具包SDK,确定与所述待测试的功能关联的待测试的一个或多个SDK;

基于通用的测试用例规范针对所述一个或多个SDK构建一个或多个测试用例,其中,所述测试用例规范使用能够被所述软件的任一SDK解析和执行的语言编写;

调用所述一个或多个SDK执行所述一个或多个测试用例以对所述一个或多个SDK进行测试。

7.根据权利要求6所述的电子设备,其中,所述基于通用的测试用例规范针对所述一个或多个SDK构建一个或多个测试用例包括:

获取所述一个或多个SDK的预设字段的内容;

将获取的所述预设字段的内容填充到所述测试用例规范中与所述预设字段对应的位置上以构建与所述一个或多个SDK关联的一个或多个测试用例。

8.根据权利要求6所述的电子设备,其中,所述基于所述待测试的功能查询所述软件的SDK,确定与所述待测试的功能关联的待测试的一个或多个SDK包括:

查询所述软件的能力集,其中,所述软件的能力集中包括所述软件支持的各项功能及与所述各项功能关联的SDK;

将查询到的与所述待测试功能关联的一个或多个SDK确定为待测试的一个或多个SDK。

9.根据权利要求6所述的电子设备,其中,所述获取并解析测试指令,确定待测试的功能包括:

响应于测试终端的命令去指定的存储位置获取相应标识符的测试指令,其中,所述命令中至少包括所述测试指令的存储位置和所述测试指令的标识符;

解析所获取的测试指令以确定待测试的功能。

10.一种非易失性计算机可读存储介质,其特征在于,所述非易失性计算机可读存储介质存储计算机指令,所述计算机指令用于使所述计算机执行权利要求1-5中任一项所述的方法。

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