[发明专利]显示屏闪烁测试方法

说明书

本发明涉及一种显示屏闪烁测试方法，包括：获取预设的公共电压数组，所述预设的公共电压数组中包含多个公共电压值；获取所述公共电压数组中采集频率最高的至少一个所述公共电压值作为预判值；根据所述预判值对显示屏进行闪烁测试，获取所述显示屏的闪烁值；将所述闪烁值分别与第一预设阈值以及第二预设阈值进行对比，获取最小闪烁值对应的所述公共电压值，并将所述公共电压值写入所述显示屏的驱动芯片。所述显示屏闪烁测试方法能够减少寻找最佳公共电压值的时间，可提高生产效率，降低产品成本。

技术领域

本发明涉及显示屏测试领域，特别是涉及一种显示屏闪烁测试方法。

背景技术

随着手机及平板的显示屏所占的比例越来越大，使得显示屏的显示效果受到了越来越多的重视。为了追求较好的体验效果，用户希望显示屏的视角更宽，对比度更高，屏幕更加清晰，画面FLICKER(闪烁)更小，由于当画面闪烁变大时，则会直接影响显示屏的清晰度。而当画面闪烁足够小时，则显示屏呈现的画面如一幅静止的画面，用户体验感较好。因此，FLICKER目前成为一备受关注的指标。

显示屏画面的显示，是通过LCD(Liquid Crystal Display，简称液晶显示器) 中液晶的翻转使光线透过得以实现。而光的透过率与液晶翻转的角度有关，LCD 通过液晶的翻转角度来实现一个画面的灰度效果表示。即当显示某个静态画面时，则液晶会保持翻转角度不变。而为了防止液晶被极化，所以实现液晶翻转的电场并不是直流电场，而是正负半周时间相同，幅值相同的交流电场，从而使得液晶在一个交流电场中，保持一个固定的翻转角度，从而控制显示FLICKER 尽可能小。

通常LCD每次完成一帧的扫描，则电场会变换一次，然而在实际情况中，使液晶翻转角度的正负电场，通常无法保证完全一样，而当液晶在这两个电场中的翻转角度不同时，FLICKER就产生了。为了使得每个显示屏都能够获得最小的FLICKER，现在各个模组厂都会对生产的每一个显示屏，进行FLICKER 的OTP(One-time Programmable )烧录，通过更改VCOM电压(公共电压)寄存器的设置，寻找每个显示屏最合适的VCOM电压，并将该最佳设置，烧录固化到驱动IC芯片内部。显示屏每次显示均会调用之前烧录的值，以获得该显示屏的最佳FLICKER。

每个显示屏都需要做这样的烧录，每个显示屏的烧录时间，目前各个模组厂的时间是在18～25S，其中12～15S左右的时间是在寻找最佳VCOM电压值的过程中。然而，寻值的范围设置得过小，则可能会造成无法找到最佳值；而寻值范围设置过大，则会造成寻值时间变长；而自适应的寻值范围，容易出现BUG，导致寻值异常。而现有技术中无论采用分割法、模拟曲线以及循环找值等寻值方式，其都很难缩短烧录时间。

发明内容

基于此，有必要针对显示屏闪烁测试方法中对于最佳公共电压值寻找时间久的问题，提供一种能够减少寻找最佳公共电压值的时间的显示屏闪烁测试方法。

一种显示屏闪烁测试方法，包括如下步骤：

获取预设的公共电压数组，所述预设的公共电压数组中包含多个公共电压值；

获取所述公共电压数组中采集频率最高的至少一个所述公共电压值作为预判值；

根据所述预判值对显示屏进行闪烁测试，获取所述显示屏的闪烁值；

将所述闪烁值分别与第一预设阈值以及第二预设阈值进行对比；

当所述闪烁值小于或等于所述第一预设阈值时，则将所述闪烁值对应的所述公共电压值写入所述显示屏的驱动芯片上；

当所述闪烁值大于所述第一预设阈值并小于或等于所述第二预设阈值时，则根据预设的闪烁值与公共电压值的对应关系，获取多个小于或等于所述第一预设阈值的闪烁值对应的公共电压值，根据所述公共电压值对所述显示屏进行所述闪烁测试，获取最小闪烁值对应的所述公共电压值，并将所述公共电压值写入所述显示屏的驱动芯片；