[发明专利]液晶显示面板的检测电路结构与液晶显示面板

说明书

本发明公开了一种液晶显示面板的检测电路结构与液晶显示面板，检测电路结构包括第一引线层，其具有多条信号引线；以及第二引线层，其具有与所述多条信号引线分别对应的多条测试引线；其中，在所述多条测试引线中，至少两条测试引线的第一端分别通过选通单元与其对应的信号引线相连接，其余测试引线的第一端分别与其对应的信号引线相连接；各测试引线的第二端均与用于输入测试信号的检测端子相连接；当与该选通单元连接的测试引线传输测试信号时被开启，以使所述测试引线与对应的信号引线电性连接。该检测电路结构解决了由于ESD静电释放而导致的HVA配向出现配向异常的问题，避免了阵列测试制程对HVA配向制程的影响，节约了制造成本。

技术领域

本发明属于液晶显示器的生产制造领域，尤其涉及一种液晶显示面板的检测电路结构与具有该检测电路结构的液晶显示面板。

背景技术

随着信息社会的发展，人们对显示设备的需求日益增长，因而也推动了液晶面板行业的快速发展。面板的产量不断提升，对面板产品的品质以及良率也有了更高的要求。提升产品品质、降低不良率、节约成本成为面板行业的主题。

液晶显示器基板的检测，一般都涉及到液晶显示面板的检测电路的设计。现有技术中，用于对液晶显示面板进行阵列测试(Array Tester)的检测电路与用于对其进行HVA配向的配向电路，同时设置在显示面板的外围区域，且为一共用的电路结构。如图1所示，布线1-6表示信号引线，布线11-16表示测试引线，各条测试引线分别与各条信号引线对应连接，且还分别与阵列测试检测端子110-160相连接。布线21-26表示配向引线，各条测试引线也分别与各条信号引线对应连接，且还分别与HVA配向端子210-260相连接。

在对显示面板进行阵列测试时，通过各阵列测试检测端子110-160输入不同的测试信号。但由于不同的测试信号电压之间存在一定的压差，随着信号传输过程中电荷的累积或突然施加电压信号时所造成的瞬时高压，将导致在传输不同测试信号的走线的跨线处，易发生静电释放(ESD)，如图1中虚线框所圈出的位置所示。静电释放会击穿跨线处的绝缘层，形成短路，对电路结构造成永久性破坏。因此，当后续再通过HVA配向端子向显示面板传输配向信号，对显示面板进行HVA配向时，将导致HVA配向出现异常，造成显示面板报废，降低生产良率。

发明内容

本发明所要解决的技术问题之一是需要提供一种液晶显示面板的检测电路以消除由于ESD而导致的HVA配向异常的问题。

为了解决上述技术问题，本申请的实施例首先提供了一种液晶显示面板的检测电路结构，包括第一引线层，其具有多条信号引线；以及第二引线层，其具有与所述多条信号引线分别对应的多条测试引线；其中，在所述多条测试引线中，至少两条测试引线的第一端分别通过选通单元与其对应的信号引线相连接，其余测试引线的第一端分别与其对应的信号引线相连接；各测试引线的第二端均与用于输入测试信号的检测端子相连接；所述选通单元被配置为：当与该选通单元连接的测试引线传输测试信号时被开启，以使所述测试引线与对应的信号引线电性连接。

优选地，所述第一引线层与液晶显示面板的第一金属层同层，所述第二引线层与液晶显示面板的第二金属层同层。

优选地，所述多条信号引线包括第一栅极引线、第二栅极引线、第一数据引线、第二数据引线以及第三数据引线，且对应于所述第一栅极引线与所述第二栅极引线的两条测试引线在布线上与所述第一数据引线、第二数据引线以及第三数据引线形成交叉跨线；所述第一栅极引线与所述第二栅极引线分别通过所述选通单元与其对应的测试引线的第一端相连接。

优选地，所述多条信号引线包括第一栅极引线、第二栅极引线、第一数据引线、第二数据引线以及第三数据引线，且对应于所述第一数据引线、第二数据引线以及第三数据引线的三条测试引线在布线上与所述第一栅极引线与第二栅极引线形成交叉跨线；所述第一数据引线、第二数据引线以及第三数据引线分别通过所述选通单元与其对应的测试引线的第一端相连接。