[发明专利]一种烘干装置

说明书

本发明涉及一种烘干装置，其包括：箱体，所述箱体内设置有空腔；将所述空腔分隔为烘干室和位于烘干室下方的加料室的隔热件，所述隔热件设置有连通所述烘干室和所述加料室的开口；设置在所述烘干室内的加热组件；用于开关所述开口的闸板组件；以及设置在所述开口下方的升降机构，所述升降机构用于将器皿抬升到烘干室或降低到加料室，其中，所述箱体的侧壁上设置有接通所述加料室的加料口。采用该烘干装置可以多次在隔绝外界环境的条件下多次添加样品，以避免外界环境因素干扰测量结果。

技术领域

本发明涉及一种烘干装置。

背景技术

TFT-LCD液晶显示装置包括液晶面板和背光模组。背光模组为背光源，用于发出背光。液晶面板用于对背光进行调制以在液晶面板上显示出图案和色彩。液晶面板包括液晶盒。液晶盒包括阵列基板、彩膜基板、液晶和框胶。框胶将阵列基板和彩膜基板粘接在一起，液晶注入在阵列基板和彩膜基板之间。阵列基板和彩膜基板上涂布有配向膜。

由于框胶的粘度较大，其约为4mPa.s，这样就导致在涂布框胶时需要采用加压的方式将框胶从胶管中挤出。框胶使用完毕后，胶管中尚有余胶，需要用丙酮清洁。考虑到杂质对IS的影响，丙酮采用电子级。

采用丙酮清洁胶管后，胶管中蒸发残渣要小于10ppm。而在材料入检监控中，对蒸发残渣的检测也为必不可少的项目。

现有的蒸发残渣测试步骤为：

步骤一：将蒸发皿称重，得到蒸发皿的质量M1。将待测样品装入到蒸发皿中，然后采用天平进行称重得到总重量M，最后将M-M1得到每次加入的待测样品的质量M2。

步骤二：将蒸发皿中的待测样品采用水浴锅蒸干，然后将其置于烘箱内进一步烘干，得到装有残渣的蒸发皿。

步骤三：循环步骤一和步骤二多次，将每次加入的待测样品的质量M2相加得到待测样品的总质量M3，测量承载有残渣的蒸发皿的质量M4。将该质量M4减去第一次所秤的空蒸发皿的质量M1获得总残渣的质量M5。

步骤四：计算残渣的百分比浓度W，W＝M5÷M3。

因为残渣的百分比浓度在百万分比浓度(ppm)的级别上，所以要采用超高精度的天平称量。例如，采用一次能最大称量值为210g的天平来称量时，由于蒸发皿的质量约为100g，每次待测样品的加入量最多为100g，则每次获得的残渣的质量为0.0001-0.0005g，若需要识别万分之一的差别，则对天平的要求非常高，至少十万分之一精度级别。

现有技术中采用多次增加待测样品的质量(即循环步骤一和步骤二)可以获得质量更多的残渣，这样就可以减小最后结果的误差。但每次循环一次步骤一和步骤二，需要将蒸发皿转移四次，这极容易引入环境中的干扰因素(例如粉尘或水汽)而导致最终的结果不准确。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是如何避免在加料的过程中被环境中的杂质所干扰。

为解决上述技术问题，本发明提出了一种烘干装置，其包括：箱体，所述箱体内设置有空腔；将所述空腔分隔为烘干室和位于烘干室下方的加料室的隔热件，所述隔热件设置有连通所述烘干室和所述加料室的开口；设置在所述烘干室内的加热组件；用于开关所述开口的闸板组件；以及设置在所述开口下方的升降机构，其中，所述箱体的侧壁上设置有接通所述加料室的加料口。

在一个具体的实施例中，所述隔热件构造为水平设置的平板。

在一个具体的实施例中，闸板组件包括设置在同一水平面上且均水平设置的第一闸板和第二闸板，第一闸板和第二闸板能相向运动而相互靠拢，从而关闭所述开口；第一闸板和第二闸板能向相互背离的方向运动而相互远离，从而打开所述开口。

在一个具体的实施例中，第一闸板和第二闸板均为电磁铁，第一闸板和第二闸板相互靠近的一端为异名端，则关闭所述开口；第一闸板和第二闸板相互靠近的一端为同名端，则打开所述开口。