[发明专利]一种基于红外热像仪的发射率测试方法

说明书

本发明提供了一种基于红外热像仪的发射率测试方法，包括：测量环境的物理参数，根据环境的物理参数设定红外热像仪的内置参数并设定红外测定距离，测量物体表面的温度以及用红外热像仪照射物体表面，调节红外热像仪的辐射率参数，直至显示温度与物体表面的温度相同，则红外热像仪的辐射率即为物体表面的发射率。本发明根据红外热像仪的工作原理，依托于红外热像仪的精密性，利用热电偶、热电阻的测温精度，或绝缘胶带和黑漆的热导率、发射率的稳定性来实现物体表面的温度的准确测定，从而准确测定物体发射率。本发明的方法具有现场性和便携性且不破坏物体，是一种无损测试方法，解决了测量物体发射率需要特殊的贵重仪器且需要专门制样的问题。

技术领域

本发明涉及发射率的测试方法，具体而言，一种基于红外热像仪的发射率测试方法。

背景技术

发射率是实际物体的辐射能量与同温下的黑体的辐射能量之比。实际物体的发射率与诸如物体表面温度、表面粗糙度以及表面氧化层、表面杂质或涂层存在的物体的表面状态有关。红外热像仪利用红外探测器和光学成像物镜接受被测目标的红外辐射能量分布图形反映到红外探测器的光敏元件上，从而获得红外热像图。红外热像图反映了目标物体红外辐射的强弱，而由于物体的发射率与红外辐射率直接相关，因此，可以通过红外热像仪来测量物体表面的发射率。

目前，物体发射率的测试方法通常是将物体制成小样品，用专用的发射率测量仪来进行测量，但是有些情况下，现场需要评估某物件表面发射率而不能损坏或者没有充足时间时，就无法获得其发射率数据。另外，专用红外发射率测量仪一般为台式且价格昂贵，无法满足现场测试需要。

发明内容

针对相关技术中的问题，本发明提供了一种基于红外热像仪的发射率测试方法，具有便携且无损的优势。

根据本发明的一个方法，提供了一种基于红外热像仪的发射率测试方法，包括：测量环境的物理参数；根据所述环境的所述物理参数设定红外热像仪的内置参数，并设定红外测定距离；测量物体表面的温度；以及用所述红外热像仪照射所述物体表面，不断调节所述红外热像仪的内置辐射率参数，直至所述红外热像仪的显示温度与所述物体表面的所述温度相同，则所述红外热像仪的辐射率即为所述物体表面的发射率。

在上述发射率测试方法中，测量所述物体表面的所述温度包括：在所述物体表面贴一块绝缘胶带，稳定15～25min；将所述红外热像仪的所述内置辐射率参数调节为所述绝缘胶带的发射率，用所述红外热像仪照射所述绝缘胶带的表面，显示温度即为所述物体表面的所述温度。

在上述发射率测试方法中，所述绝缘胶带为一层发射率为0.98的电工绝缘胶带。

在上述发射率测试方法中，将所述红外热像仪的所述内置辐射率参数调节为0.98。

在上述发射率测试方法中，当用所述红外热像仪照射所述绝缘胶带的表面时，将所述红外热像仪放置在所述红外测定距离处。

在上述发射率测试方法中，当用所述红外热像仪照射所述绝缘胶带的表面时，所述红外热像仪与所述物体表面的法向角保持在45℃～90℃。

在上述发射率测试方法中，所述绝缘胶带的大小为5mm×1mm～10mm×1mm。

在上述发射率测试方法中，可通过涂刷一层发射率为0.97的黑漆来代替所述绝缘胶带。

在上述发射率测试方法中，将所述红外热像仪的所述内置辐射率参数调节为0.97。

在上述发射率测试方法中，采用热电偶或热电阻测量所述物体表面的所述温度。

在上述发射率测试方法中，当用所述红外热像仪照射所述物体表面时，将所述红外热像仪放置在所述红外测定距离处。

在上述发射率测试方法中，当用所述红外热像仪照射所述物体表面时，所述红外热像仪与所述物体表面的法向角保持在45℃～90℃。