[发明专利]一种线性渐变滤光片的光谱特征参数测试方法在审

专利信息
申请号: 201710500527.4 申请日: 2017-06-27
公开(公告)号: CN107462525A 公开(公告)日: 2017-12-12
发明(设计)人: 袁艳;王世丰;苏丽娟;安达 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01N21/25 分类号: G01N21/25
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)11201 代理人: 罗文群
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 线性 渐变 滤光 光谱 特征 参数 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种线性渐变滤光片光谱特征参数测试方法,其特征在于,包括以下步骤:

(1)将一个光源设置在平行光管的一侧,组成一个平行光源,在平行光管的另一侧设置一个微动位移平台,设置一个光谱仪,光谱仪的光学探头置于微动位移平台的另一侧;

(2)开启光源,利用光谱仪,采集上述平行光源的辐照度E0(λ),其中λ为光源波长;

(3)将待测线性渐变滤光片安装在微动位移平台,利用光谱仪,再次采集平行光源经待测线性渐变滤光片透射后的辐照度E(λ,xi),其中xi为待测线性渐变滤光片的测量点位置,使微动位移平台在垂直于平行光管的方向上、下移动,得到待测线性渐变滤光片的不同测量点的辐照度E(λ,x);

(4)利用下式,计算待测线性渐变滤光片在每个测量点的光谱透过率,得到光谱透过率曲线τ(λ,x):

τ(λ,x)=E(λ,x)E0(λ)]]>

(5)根据上述光谱透过率曲线τ(λ,x),利用下式,拟合得到待测线性渐变滤光片的中心波长λc(x)和半高宽Δλ(x):

τ(λ,x)=τc(x)exp[-(4ln2)(λ-λc(x))2Δλ(x)2],]]>

(6)根据上述中心波长λc(x),利用下式,通过线性拟合得到待测线性渐变滤光片的线性色散系数k0

λc(x)=k0x+b0

其中,b0为待测线性渐变滤光片在起始测量点的中心波长。

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