[发明专利]一种线性渐变滤光片的光谱特征参数测试方法在审
申请号: | 201710500527.4 | 申请日: | 2017-06-27 |
公开(公告)号: | CN107462525A | 公开(公告)日: | 2017-12-12 |
发明(设计)人: | 袁艳;王世丰;苏丽娟;安达 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | G01N21/25 | 分类号: | G01N21/25 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)11201 | 代理人: | 罗文群 |
地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 线性 渐变 滤光 光谱 特征 参数 测试 方法 | ||
1.一种线性渐变滤光片光谱特征参数测试方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)将一个光源设置在平行光管的一侧,组成一个平行光源,在平行光管的另一侧设置一个微动位移平台,设置一个光谱仪,光谱仪的光学探头置于微动位移平台的另一侧;
(2)开启光源,利用光谱仪,采集上述平行光源的辐照度E0(λ),其中λ为光源波长;
(3)将待测线性渐变滤光片安装在微动位移平台,利用光谱仪,再次采集平行光源经待测线性渐变滤光片透射后的辐照度E(λ,xi),其中xi为待测线性渐变滤光片的测量点位置,使微动位移平台在垂直于平行光管的方向上、下移动,得到待测线性渐变滤光片的不同测量点的辐照度E(λ,x);
(4)利用下式,计算待测线性渐变滤光片在每个测量点的光谱透过率,得到光谱透过率曲线τ(λ,x):
(5)根据上述光谱透过率曲线τ(λ,x),利用下式,拟合得到待测线性渐变滤光片的中心波长λc(x)和半高宽Δλ(x):
(6)根据上述中心波长λc(x),利用下式,通过线性拟合得到待测线性渐变滤光片的线性色散系数k0:
λc(x)=k0x+b0
其中,b0为待测线性渐变滤光片在起始测量点的中心波长。
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