[发明专利]一种对中仪及使用方法

权利要求书

1.一种对中仪，其特征在于，包括显示装置、激光发射装置和激光收集装置，所述激光发射装置和所述激光收集装置均电连所述显示装置，所述激光发射装置和所述激光收集装置均设有支架，所述支架包括两个相互平行的支柱，所述支架贯穿所述激光发射装置或者所述激光收集装置，一个所述支架中的两个所述支柱之间垂直设有支撑柱，所述激光发射装置的底部或者所述激光收集装置的底部紧密接触所述支撑柱。

2.根据权利要求1所述的对中仪，其特征在于，所述支柱上设有卡孔，所述支撑柱的两端设有与所述卡孔匹配的具有弹性的卡块。

3.根据权利要求2所述的对中仪，其特征在于，所述卡孔的下端设有刻度。

4.根据权利要求1所述的对中仪，其特征在于，所述支撑柱焊接在所述支柱上。

5.根据权利要求1所述的对中仪，其特征在于，一个所述支架的两个所述支柱之间活动设有第一定位柱，所述第一定位柱平行于所述支撑柱。

6.根据权利要求1或5所述的对中仪，其特征在于，两个所述支架的上部之间设有第二定位柱，所述第二定位柱的两端垂直连接所述支柱。

7.根据权利要求6所述的对中仪，其特征在于，所述第二定位柱具有可伸缩性。

8.根据权利要求7所述的对中仪，其特征在于，所述第二定位柱的一端固定连接一个所述支架的上端部，另一端活动连接另一个所述支架的上端部。

9.权利要求8所述的对中仪的使用方法如下：

第一步：将对中仪的所述激光发射装置和所述激光收集装置上的所述支柱插入待检测的轴上，调节所述第一定位柱的位置使所述第一定位柱压住待检测的轴的表面，确保同一个所述支架的所述支柱插入的待检测轴的深度相同；

第二步：启动电源开始测量，根据实际检测结果，调节所述第二定位柱的位置，确保所述第二定位柱与所述支架均垂直，直接调节待检测轴的一端的位置，使待检测轴抵住所述支柱的下端部，则调节结束。