[发明专利]一种平度检具及采用该检具的平度测量方法

权利要求书

1.一种平度检具，其特征在于包括圆柱形基体，所述基体的一端沿基体中轴线安装有突出的圆柱形探针，基体的另一端设有环形的限位挡块，所述限位挡块突出于基体，且限位挡块朝向探针一侧的侧面垂直于基体的中轴线；所述基体内部设有贯穿的通孔，所述通孔朝向探针的一端为锥形孔；所述通孔内安装有对中紧固环，所述对中紧固环的一端为若干个夹爪，另一端的端面为平面，所述探针夹设于所述若干个夹爪中间；所述通孔还设有内螺纹，并通过螺纹配合安装有紧固螺栓，所述紧固螺栓与对中紧固环相抵，从而将对中紧固环向锥形孔的方向推动，并将对中紧固环固定于通孔内。

2.根据权利要求1所述的平度检具，其特征在于所述夹爪的内侧面设有防滑纹。

3.根据权利要求1或2所述的平度检具，其特征在于所述基体在探针的一侧可拆卸地安装有保护盖。

4.根据权利要求1或2所述的平度检具，其特征在于所述基体表面设有防滑纹。

5.根据权利要求1或2所述的平度检具，其特征在于所述基体与限位挡块为分体结构，所述限位挡块通过螺纹配合固定于基体的端部。

6.采用权利要求1所述平度检具的平度测量方法，其特征在于包括如下步骤：

A：将长方体状的基准块放置在被测量部件的旁侧，并将基准块的顶面调整至水平状态；

B：将检具放置在基准块的顶面，并使检具的限位挡块与基准块的侧面相抵；

C：将三角间隙尺塞入检具的探针和被测量部件之间，并使三角间隙尺的底面与被测量部件紧密接触，使三角间隙尺与探针相抵；被测量部件的测量位置的平度a=D-d，所述D为三角间隙尺与探针接触部位的数值，所述d为基体半径与探针半径之差。