[发明专利]白光LED荧光粉变温光谱特性的透射式测试装置及方法有效
申请号: | 201710483942.3 | 申请日: | 2017-06-23 |
公开(公告)号: | CN107228849B | 公开(公告)日: | 2019-04-26 |
发明(设计)人: | 郭自泉;丘海华;陈忠;吕毅军;陈国龙;高玉琳;林伟毅 | 申请(专利权)人: | 厦门大学 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64 |
代理公司: | 厦门南强之路专利事务所(普通合伙) 35200 | 代理人: | 马应森 |
地址: | 361005 *** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 白光 led 荧光粉 光谱 特性 透射 测试 装置 方法 | ||
1.白光LED荧光粉变温光谱特性的透射式测试装置,其特征在于设有铝圆柱、石墨烯玻璃、凸透镜、荧光粉控温电路装置、LED蓝光芯片、LED芯片控温装置、积分球、光谱仪和计算机;
所述石墨烯玻璃固定放置在铝圆柱内部,所述石墨烯玻璃由透明电极、石墨烯、普通玻璃三者贴合而成,石墨烯玻璃用于放置LED荧光粉样品,铝圆柱的顶部接收经过凸透镜汇聚的平行光线,平行的激发光沿着与石墨烯玻璃垂直的方向垂直照射到荧光粉样品上;铝圆柱底面与积分球上窗孔相连,收集激发后的混合白光;铝圆柱底面与积分球接触面作绝热处理;荧光粉控温电路装置连接石墨烯玻璃的两端透明电极,通过比较探测的石墨烯玻璃温度和设定温度控制加在石墨烯玻璃电极两端的电压通断,达到对石墨烯玻璃及荧光粉的控温;LED蓝光芯片置于LED芯片控温装置上,通过LED芯片控温装置控制LED蓝光芯片的工作温度;LED蓝光芯片放置在凸透镜的焦点处,用于将蓝光转化成平行光;积分球和光谱仪通过光纤相连接,将积分球收集的光传给光谱仪;计算机控制光谱仪对经由光纤传递的光进行测量处理得到光谱功率分布,同时得到相关色温、显色指数、色纯度、主波长光度学和色度学参数。
2.白光LED荧光粉变温光谱特性的透射式测试的方法,其特征在于采用如权利要求1所述白光LED荧光粉变温光谱特性的透射式测试装置,所述方法包括以下步骤:
1)在测试前,搭建测试装置;
2)将修正用的卤钨灯直接置于积分球上窗孔,通电后测量其绝对光谱;
3)将卤钨灯置于凸透镜的焦点处,卤钨灯经过凸透镜汇聚后的平行光在铝圆柱内穿过石墨烯玻璃传递到积分球中,石墨烯玻璃上没有荧光粉,再通过积分球,把光传递给光谱仪,测量其相对光谱;
4)用测得的用于校准的卤钨灯白光光谱不同波长的强度P相对(λ)除以其绝对光谱的对应波长的强度P绝对(λ),得装置的修正系数R(λ)与波长λ的关系曲线,其中
5)从铝圆柱中取出石墨烯玻璃,并把荧光粉均匀涂敷在石墨烯玻璃一侧,再将石墨烯玻璃放入铝圆柱中,将LED蓝光芯片放置于凸透镜的焦点处;
6)改变荧光粉控温电路装置的设定温度,使得石墨烯玻璃的温度得到相应改变,平行蓝光在铝圆柱内激发石墨烯玻璃上的荧光粉样品,并把激发后的混合光传递到积分球中,通过积分球收集后,把光传递给光谱仪,根据测试需要,调节荧光粉控温电路装置的设定温度,重复以上过程,得不同温度下白光相对光谱;
7)通过将荧光粉不同温度下测得的相对光谱除修正系数得荧光粉不同温度下的绝对光谱;
8)结合绝对光谱的数据和温度,绘出温度对荧光粉的光度和色度特性的影响曲线。
3.如权利要求2所述白光LED荧光粉变温光谱特性的透射式测试的方法,其特征在于在步骤1)中,所述搭建测试装置的具体方法为:先把凸透镜置于垂直于积分球上窗孔的光路上,将LED蓝光芯片置于LED芯片控温装置上,并同时将LED蓝光芯片放置于凸透镜的焦点处,使绝热处理过的铝圆柱底面和积分球的上窗孔相连接,通过光纤将积分球和光谱仪连接,再石墨烯玻璃经过铝圆柱上方放入铝圆柱中间处,荧光粉控温电路装置连接石墨烯玻璃的两端透明电极。
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