[发明专利]一种螺栓结合面真实接触面积测量装置及方法有效
申请号: | 201710448067.5 | 申请日: | 2017-06-14 |
公开(公告)号: | CN107179060B | 公开(公告)日: | 2019-04-09 |
发明(设计)人: | 惠烨;李鹏阳;李艳 | 申请(专利权)人: | 陕西科技大学 |
主分类号: | G01B11/28 | 分类号: | G01B11/28 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 齐书田 |
地址: | 710021 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光纤位移传感器 纳米级 下试件 螺栓结合面 支撑箱 面积测量装置 结合面 上试件 通孔 预紧 信号采集系统 调整组件 螺栓连接 面积测量 载荷变化 下螺栓 预变形 试件 试验 穿过 计算机 | ||
1.一种螺栓结合面真实接触面积测量方法,其特征在于,采用螺栓结合面真实接触面积测量装置,包括支撑箱座(1),支撑箱座(1)上固定有下试件(2),下试件(2)上通过螺栓(4)连接有上试件(3),支撑箱座(1)上设有通孔,通孔中设置有若干纳米级光纤位移传感器(5),所述纳米级光纤位移传感器(5)通过调整组件连接在下试件(2)上,且纳米级光纤位移传感器(5)的顶部穿过下试件(2)连接至下试件(2)和上试件(3)的结合面(10),纳米级光纤位移传感器(5)的底部通过信号采集系统(11)连接至计算机(12);
所述螺栓结合面真实接触面积测量方法包括以下步骤:
步骤一:通过调整组件将纳米级光纤位移传感器(5)调至测量量程范围内;
步骤二:通过紧螺栓(4)至预定的预紧载荷,在拧紧过程中,下试件(2)静止,上试件(3)在螺栓(4)的作用下向下压紧下试件(2),结合面(10)间的微凸体发生变形开始接触;随着载荷的增大,上试件(3)和下试件(2)结合面间的接触区域内微凸体变形增大,接触区域内间隙减小直至间隙为零,纳米级光纤位移传感器(5)获取的位移量也逐渐减小至零;加载过程中通过信号采集系统(11)将各个纳米级光纤位移传感器(5)的数据采集并传输至计算机(12),即获取加载过程中不同预紧载荷下结合面的位移值,从而获取结合面的接触刚度;
步骤三:当达到预紧载荷值,接触区域的纳米级光纤位移传感器(5)接收光量为零,非接触区域由于上下结合面间有间隙,纳米级光纤位移传感器(5)接收光量不为零,即位移值不为零,以螺栓(4)的轴线与结合面(10)的交点为螺栓中心,距离螺栓中心最近的且还有位移值输出的纳米级光纤位移传感器(5)的中心位置,即为螺栓结合面开始出现非接触区域的位置,由螺栓中心到此位置即为接触区域半径,即可求出在该预紧载荷下的螺栓结合面真实接触面积;
步骤四:重复上述步骤一至步骤三并改变预紧载荷,即获得不同预紧载荷下螺栓结合面的真实接触面积。
2.根据权利要求1所述的一种螺栓结合面真实接触面积测量方法,其特征在于,所述的调整组件包括外套筒(7),外套筒(7)上部活动连接有固定螺套(6),固定螺套(6)与下试件(2)固定连接,外套筒(7)中设有内套筒(9),且内套筒(9)上部穿插设置在固定螺套(6)中,纳米级光纤位移传感器(5)穿插设在内套筒(9)中。
3.根据权利要求2所述的一种螺栓结合面真实接触面积测量方法,其特征在于,外套筒(7)上部设有内螺纹,固定螺套(6)下部设有外螺纹,外套筒(7)和固定螺套(6)通过螺纹连接。
4.根据权利要求2所述的一种螺栓结合面真实接触面积测量方法,其特征在于,内套筒(9)的下部直径大于上部直径,内套筒(9)的下部和上部之间形成平台,固定螺套(6)的底部和平台之间设有弹簧(8)。
5.根据权利要求4所述的一种螺栓结合面真实接触面积测量方法,其特征在于,通过调整组件将纳米级光纤位移传感器(5)调至测量量程范围内具体为:通过调整外套筒(7)和固定螺套(6)之间的距离,使其压紧弹簧(8),通过弹簧(8)带动内套筒(9),进而通过内套筒(9)带动纳米级光纤位移传感器(5),将纳米级光纤位移传感器(5)微调至测量量程范围内。
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