[发明专利]检波电路有效
申请号: | 201710442166.2 | 申请日: | 2017-06-13 |
公开(公告)号: | CN107623499B | 公开(公告)日: | 2020-12-11 |
发明(设计)人: | 杉本泰崇;广冈博之 | 申请(专利权)人: | 株式会社村田制作所 |
主分类号: | H03F3/21 | 分类号: | H03F3/21 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 干欣颖 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检波 电路 | ||
本发明的检波电路使检波电路的线性度得以提高。其包括:第1晶体管,该第1晶体管的基极输入有交流信号,并从集电极输出与交流信号相对应的第1检波信号;第2晶体管,该第2晶体管的基极输入有第1检波信号,并从集电极输出与第1检波信号相对应的第2检波信号;以及交流信号路径,该交流信号路径向第2晶体管的基极提供交流信号。
技术领域
本发明涉及检波电路。
背景技术
作为在发送无线信号时对无线信号的功率进行放大的电路,广泛使用了功率放大器。此外,为了对从功率放大器输出的无线信号的输出功率进行检波,多使用检波电路。
例如,专利文献1中公开有具备2个晶体管的检波电路。具体而言,专利文献1的图1中所公开的检波电路包括晶体管Tr1以及晶体管Tr2。晶体管Tr1的集电极电压根据RF输入功率而变化,晶体管Tr2的集电极电压(检波电压)根据晶体管Tr1的集电极电压的变化而变化。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本专利特开2008-148214号公报
发明内容
发明所要解决的技术问题
然而,流过晶体管的电流相对于提供至基极的电压呈指数函数变化。因此,在专利文献1所公开的检波电路中,检波电压相对于RF输入功率通常也呈指数函数变化。检波电路中,优选检波电压相对于RF输入功率的变化呈线性。
本发明是鉴于上述情况而完成的,其目的在于提高检波电路的线性度。
用于解决技术问题的技术手段
本发明一个方面所涉及的检波电路包括:第1晶体管,该第1晶体管的基极输入有交流信号,并从集电极输出与交流信号相对应的第1检波信号;第2晶体管,该第2晶体管的基极输入有第1检波信号,并从集电极输出与第1检波信号相对应的第2检波信号;以及交流信号路径,该交流信号路径向第2晶体管的基极提供交流信号。
发明效果
根据本发明,能提高检波电路的线性度。
附图说明
图1是示出包含本发明的一个实施方式的检波电路的功率放大模块的结构的图。
图2是示出检波电路120的构成的一个示例的图。
图3是示出用于与检波电路120A进行比较的检波电路300的结构的图。
图4A是示出检波电压Vdet相对于放大信号RFout的变化的模拟结果。
图4B是示出检波电压Vdet相对于放大信号RFout的灵敏度的模拟结果的图。
图5是示出检波电路120的结构的另一示例的图。
图6是示出检波电路120的结构的另一示例的图。
图7是示出检波电路120的结构的另一示例的图。
图8是示出检波电路120的结构的另一示例的图。
图9A是示出检波电压Vdet相对于放大信号RFout的变化的模拟结果的图。
图9B是示出检波电压Vdet相对于放大信号RFout的灵敏度的模拟结果的图。
图10是示出检波电路120的结构的另一示例的图。
具体实施方式
以下,参照附图对本发明的一个实施方式进行说明。图1是示出包含本发明的一个实施方式的检波电路的功率放大模块的结构的图。功率放大模块100包括功率放大器110a、110b、110c、以及检波电路120。
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