[发明专利]电光传感器系统

说明书

技术领域

本公开涉及用于测试光信号的系统和方法，并且更具体而言，涉及用于与示波器结合使用的电光式电压探针以及对应的附件。

背景技术

测试和测量系统被设计成接收信号，采样信号并且显示结果。例如，测试和测量系统可以被实现为确定和显示在被测设备（DUT）处出现的信号的特性。在一些情况下，测试和测量系统可能远离DUT定位。例如，一些DUT信号可能由于紧密接近于DUT的任何电气系统的存在而被改变。在这种情况下，测试和测量系统可以远离DUT定位以支持DUT的电隔离，这导致增加的测量精度。然而，来自DUT的信号仍然可能穿越线缆以到达远程定位的测试和测量系统。在DUT与测试和测量系统之间过渡期间，信号可能被改变，这可能会降低测试和测量系统处的显示结果的精度。

本发明的各方面解决了这些和其他问题。

附图说明

图1是用于确定主机和DUT之间的光载波变化的测试和测量系统的一个方面的框图。

图2是用于确定主机和DUT之间的光载波变化的测试和测量系统的另一方面的框图。

图3是用于确定主机和DUT之间的光载波变化的测试和测量系统的又一方面的框图。

图4是用于确定主机和DUT之间的光载波变化的测试和测量系统的又一方面的框图。

图5是用于确定主机和DUT之间的光载波变化的测试和测量系统的又一方面的框图。

图6图示了在电光传感器中所采用的一种示例光调制器。

图7图示了在电光传感器中所采用的另一种示例光调制器。

图8是用于补偿光载波变化的示例控制器的框图。

图9是用于补偿光载波变化的示例电光传感器的框图。

图10是用于补偿光载波变化的示例主机的框图。

图11是用于预补偿光载波变化的示例方法的流程图。

图12是用于后补偿光载波变化的示例方法的流程图。

具体实施方式

本公开的各方面易受各种修改和替代形式的影响。具体的方面已借助于附图中的示例示出并在下文中详细描述。然而，应当注意的是，本文所公开的示例为了论述清楚的目的而提出，并且不意在将所公开的一般概念的范围限于本文所述的特定方面，除非明确地限制。因此，本公开旨在覆盖按照附图和权利要求的所描述方面的所有修改、等同和替代。

本说明书中对方面、示例等的引用指示了所描述的物项可以包括特定的特征、结构或特性。然而，每个公开的方面可以包括或可以不一定包括该特定的特征、结构或特性。此外，除非具体指出，否则这样的用语不一定指代相同的方面。另外，当结合特定方面来描述特定的特征、结构或特性时，可以结合另一公开的方面而采用这种特征、结构或特性，无论这种特征、结构或特性是否结合该另一公开的方面而被明确地描述。

远程电光传感器可以经由电缆和/或光纤耦合到DUT并且耦合到控制器。为了支持电隔离，光载波可以通过上游光纤从控制器传输到电光传感器。然后，电光传感器可以将来自DUT的数据调制到光载波上，并将所得到的光信号经由下游光纤转发回到控制器，以用于转换成电信号以便由主机进行处理和显示。这样的系统促进DUT的电隔离，并且减少由远程电光传感器所采用的功率量。然而，上游光纤中的弯曲和/或其他环境机械运动可能引起一些光损耗，并因此改变由电光传感器所接收到的光载波的强度。这样的变化然后可能影响由控制器所接收到的所得到的光信号。此外，电光传感器可以采用光调制器来执行到光载波上的数据调制。一些光调制器是偏振敏感的。光纤中的弯曲和/或其他机械运动也可能引起光载波的偏振方面的变化。载波的这种不适当偏振的部分可能被光调制器阻挡，从而导致载波在光调制器处的光强度方面的变化以及光信号中的变化。