[发明专利]一种条形试样打磨的装置

说明书

技术领域

本发明涉及试样打磨装置的领域，具体而言，涉及一种条形试样打磨的装置。

背景技术

科学研究和工业研发中，经常需要制作标准的条形试样，用于各种性能测试。例如，热电材料研发中，需要用条形试样来测试电阻率、赛贝克系数。材料力学性能测试中，需要用条形试样来测试三点弯曲或四点弯曲强度。如果试样尺寸与要求的标准尺寸差距较大，则测试结果误差很大。因此有必要开发一种方便打磨标准形状试样的机械装置，提高实验研发效率。本申请的发明人研究发现现有技术缺少严格管控条形试样加工尺寸的装置，不仅降低试样制备的效率与良品率，还容易因为试样尺寸精确度低影响试样的实验结果准确性。

发明内容

本发明提供了一种条形试样打磨的装置，旨在改善现有条形试样制备尺寸误差大的问题。

本发明是这样实现的：

一种条形试样打磨的装置，包括：

基座，试样设在所述基座上，所述基座至少包括第一基准面，试样相应所述第一基准面暴露第一加工面；

第一基准块，所述第一基准块设在基座上，所述第一基准块包括第一校准面，所述第一基准块可以沿垂直第一校准面的方向移动，试样贴靠在所述第一校准面上；

第二基准块；所述第二基准块设在基座上，所述第二基准块包括第二校准面，所述第二基准块可以沿垂直第二校准面的方向移动，试样贴靠在所述第二校准面上；

压紧单元，用于固定试样、第一基准块与第二基准块的位置。

进一步地，在本发明较佳的实施例中，所述基座包括第一基准面和第二基准面，试样相应所述第一基准面、所述第二基准面分别暴露第一加工面与第二加工面。

进一步地，在本发明较佳的实施例中，所述基座为L形结构。

进一步地，在本发明较佳的实施例中，所述压紧单元包括第一压紧组件，所述第一压紧组件包括压紧板和锁紧件，所述锁紧件设在所述第一基准块上，所述锁紧件与所述压紧板连接，所述压紧板沿锁紧方向的压紧位置可调，所述压紧板压制在试样顶面。

进一步地，在本发明较佳的实施例中，所述基座上凸起限位部，所述限位部上开设有限位槽，所述第二基准块设在所述限位槽内，所述第二基准块可沿所述限位槽移动。

进一步地，在本发明较佳的实施例中，所述基座上设有放置基准面，试样设在所述放置基准面，所述限位槽的底面与所述放置基准面平齐；所述第二基准块的底面与所述放置基准面贴合所第二校准面与所述放置基准面垂直。

进一步地，在本发明较佳的实施例中，所述第一基准块的底面与所述放置基准面贴合，所述第一校准面与所述放置基准面垂直。

进一步地，在本发明较佳的实施例中，所述基座或所述第一基准块或所述第二基准块上设有刻度。

进一步地，在本发明较佳的实施例中，所述第一基准面与所述第二基准面相对所述放置基准面垂直。

进一步地，在本发明较佳的实施例中，所述基座采用的材质硬质大于试样的硬度。

本发明的有益效果是：通过上述设计得到的条形试样打磨的装置，使用时，通过第一校准块与第二校准块使得试样的两个面能够被准确定位，保证条形试样加工后的平整度与尺寸，使得条形试样的打磨尺寸能够精准控制。提高条形试样的尺寸精准，使得试样符合电阻率测试、赛贝克系数测试、弯曲强度等实验要求。本发明具有结构简单、可靠性高，便于试样制作的优点。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施方式的技术方案，下面将对实施方式中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1是本发明实施例1，条形试样打磨的装置加工第一加工面时在第一视角下的结构示意图；

图2是本发明实施例1，条形试样打磨的装置加工第一加工面时在第二视角下的结构示意图；

图3是图2所示条形试样打磨的装置的俯视图；

图4是本发明实施例1，条形试样打磨的装置加工第二加工面时在第一视角下的结构示意图；

图5是本发明实施例1，条形试样打磨的装置加工第二加工面时在第二视角下的结构示意图；

图6是图5所示条形试样打磨的装置的俯视图；

图7是本发明实施例2，条形试样打磨的装置在第一视角下的结构示意图；

图8是本发明实施例2，条形试样打磨的装置在第二视角下的结构示意图；

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