[发明专利]复杂非均质结构体的动态应力场演化规律的测量方法在审

专利信息
申请号: 201710392707.5 申请日: 2017-05-27
公开(公告)号: CN107144525A 公开(公告)日: 2017-09-08
发明(设计)人: 鞠杨;任张瑜;王里;毛灵涛;刘红彬 申请(专利权)人: 中国矿业大学(北京)
主分类号: G01N19/00 分类号: G01N19/00;G01N21/84
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司11227 代理人: 王宝筠
地址: 100086 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 复杂 非均质 结构 动态 力场 演化 规律 测量方法
【权利要求书】:

1.一种复杂非均质结构体的动态应力场演化规律的测量方法,其特征在于,包括:

通过3D打印技术制备复杂非均质结构体的透明光敏树脂模型,作为试件;

将所述试件置于圆偏振光暗场的光路中,对所述试件进行连续应力加载并录像;

根据录像生成的视频,得到连续变化的多张全场应力条纹灰度图像;

根据所述连续变化的多张全场应力条纹灰度图像,得到图像中各个位置像素点的灰度值变化数列;

根据灰度值与条纹级数之间的关系以及所述图像中各个像素点的灰度值变化数列,计算得到连续加载条件下的全场条纹级数,进而计算得到连续加载条件下的全场应力值。

2.根据权利要求1所述的复杂非均质结构体的动态应力场演化规律的测量方法,其特征在于,所述通过3D打印技术制备复杂非均质结构体的透明光敏树脂模型,包括:

基于CT扫描技术获取所述复杂非均质结构体的内部复杂孔隙结构;

对所述内部复杂孔隙结构进行数字重构,生成数字模型;

将所述数字模型导入3D打印机,打印得到所述透明光敏树脂模型。

3.根据权利要求1所述的复杂非均质结构体的动态应力场演化规律的测量方法,其特征在于,所述将所述试件置于圆偏振光暗场的光路中,对所述试件进行连续应力加载并录像,包括:

将所述试件置于圆偏振光暗场的光路中,通过应力加载装置对所述试件进行连续应力加载,并通过高清数码摄像机对所述试件中全场应力条纹变化全过程进行录像。

4.根据权利要求1所述的复杂非均质结构体的动态应力场演化规律的测量方法,其特征在于,所述根据录像生成的视频,得到连续变化的多张全场应力条纹灰度图像,包括:

将录像生成的视频按照10帧/秒转化为连续变化的多张图片;

对所述多张图片分别进行图像处理,得到多张全场应力条纹灰度图像。

5.根据权利要求1所述的复杂非均质结构体的动态应力场演化规律的测量方法,其特征在于,所述根据所述连续变化的多张全场应力条纹灰度图像,得到图像中各个位置像素点的灰度值变化数列,包括:

分别提取所述连续变化的多张全场应力条纹灰度图像上各个相同位置像素点的灰度值,构成所述各个像素点的灰度值变化数列。

6.根据权利要求1至5任一所述的复杂非均质结构体的动态应力场演化规律的测量方法,其特征在于,所述计算得到连续加载条件下的全场条纹级数,包括:

分别计算得到各个位置像素点条纹级数的整数部分和小数部分。

7.根据权利要求6所述的复杂非均质结构体的动态应力场演化规律的测量方法,其特征在于,所述计算得到各个位置像素点条纹级数的整数部分,包括:

将各个位置像素点的灰度值变化数列转换为变化曲线;

计算得到所述变化曲线中波峰和波谷的平均值;

根据所述平均值以下的波谷数量,得到相应位置像素点条纹级数的整数部分。

8.根据权利要求7所述的复杂非均质结构体的动态应力场演化规律的测量方法,其特征在于,计算得到各个位置像素点条纹级数的小数部分,包括:

根据所述变化曲线y与条纹级数的小数部分x之间的余弦函数关系y=I(1-cos(x/2π)),计算得到各个位置像素点条纹级数的小数部分。

9.根据权利要求1至5任一所述的复杂非均质结构体的动态应力场演化规律的测量方法,其特征在于,所述计算得到连续加载条件下的全场应力值,包括:

将所述全场条纹级数与光学条纹常数相乘,得到所述全场应力值。

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