[发明专利]一种回转平台姿态误差测量方法在审

专利信息
申请号: 201710388544.3 申请日: 2017-05-27
公开(公告)号: CN107101606A 公开(公告)日: 2017-08-29
发明(设计)人: 王军辉 申请(专利权)人: 江苏密斯欧智能科技有限公司
主分类号: G01B21/22 分类号: G01B21/22
代理公司: 南京纵横知识产权代理有限公司32224 代理人: 母秋松,董建林
地址: 215300 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 回转 平台 姿态 误差 测量方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种回转平台姿态误差测量方法,属于自动化设备技术领域。

背景技术

回转平台在机械、 航空、仪表、电子等工业系统都有广泛的用途,回转平台的姿态精度是系统的重要精度指标之一。对于一些复杂系统的回转平台,产生姿态误差的环节较多,过去回转平台的调整,依靠人工观察水平仪读数,经反复调整才能达到水平,从而调平时间较长,并且调平精度受人为因素的影响较大。

所以如何快速有效地测量回转平台是自动化装配行业急需要解决的问题。

发明内容

目的:为了克服现有技术中存在的不足,本发明提供一种一种回转平台姿态误差测量方法。

技术方案:为解决上述技术问题,本发明采用的技术方案为:

一种回转平台姿态误差测量方法,包括如下步骤:

步骤一:确定主轴转动的初始零位,从初始零位开始测量,每隔5°-10°在被测物件固定点上测量一次,测量一周的数据,进行角度评价,生成评价报告并存在数据文件 D1中。

步骤二:调整两个同一侧地脚螺钉高度,提高0.5mm,改变基座轴线的铅垂度;测量方法同步骤一,进行角度评价,生成评价报告并存在数据文件S1中;

步骤三:在被测工件一侧垫上0.5mm塞尺,改变回转平台和主轴间的垂直度;测量方法同步骤一,进行角度评价,生成评价报告并存在数据文件N 1中;

步骤四:利用谐波分析法对D1、S1、N1中的测量数据进行处理,将测量数据分解成一个恒定分量和若干正弦谐波分量,求出各次谐波的振幅和相角,并画出谐波曲线。

作为优选方案,所述步骤一中每隔5°在被测物件固定点上测量一次。

作为优选方案,所述步骤一中每隔10°在被测物件固定点上测量一次。

作为优选方案,所述步骤二还包括调整同测两个地脚螺钉高于初始值 0.8mm、1.0mm,依次重复步骤一,进行角度评价,测量数据存于S2、S3;所述步骤三还包括依次改变回转平台和主轴问的垂直度,垫0.8mm、1.0mm塞尺,依次重复步骤一,进行角度评价,测量数据存于N2、N3; 步骤四:利用谐波分析法对D1、S1、S2、S3、N1、N2、N3中的测量数据进行处理,将测量数据分解成一个恒定分量和若干正弦谐波分量,求出各次谐波的振幅和相角,并画出谐波曲线。

作为优选方案,所述步骤二还包括调整同测两个地脚螺钉高于初始值1.5mm、1.8mm,依次重复步骤一,进行角度评价,测量数据存于S4、S5;所述步骤三还包括依次改变回转平台和主轴问的垂直度,垫1.5mm、1.8mm塞尺,依次重复步骤一,进行角度评价,测量数据存于N4、N5; 步骤四:利用谐波分析法对D1、S1、S4、S5、N1、N4、N5中的测量数据进行处理,将测量数据分解成一个恒定分量和若干正弦谐波分量,求出各次谐波的振幅和相角,并画出谐波曲线。

作为优选方案,所述步骤二还包括调整同测两个地脚螺钉高于初始值2.0mm,依次重复步骤一,进行角度评价,测量数据存于S6;所述步骤三还包括依次改变回转平台和主轴问的垂直度,垫2.0mm塞尺,依次重复步骤一,进行角度评价,测量数据存于N6; 步骤四:利用谐波分析法对D1、S1、S6、N1、N6中的测量数据进行处理,将测量数据分解成一个恒定分量和若干正弦谐波分量,求出各次谐波的振幅和相角,并画出谐波曲线。

有益效果:本发明提供的一种回转平台姿态误差测量方法,具有以下优点:

(1)、采用关节臂坐标测量机作为测量工具,能够实现柔性、通用、在线计量检测,能够存储大量数据,软件计算功能强大,方便便携,价格便宜,具有广泛的适用性。

(2)、通过建立回转平台的几何模型,建立回转平台的姿态误差数学模型,分析误差结构,通过实验验证误差结构的变化规律,为补偿误差提供理论指导。

(3)、将关节臂坐标测量机存储的数据直接导入误差分离计算程序中, 可以快速地得到分析结果,指导回转平台的调平。

附图说明

图1为多环节回转平台测量结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明作更进一步的说明。

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