[发明专利]近场和远场一体化测试系统

说明书

技术领域

本发明涉及一种扫频源，具体涉及近场和远场一体化测试系统。

背景技术

在各行各业中，尤其是电子领域，各种各样测量装置种类繁多。一体化室外单元是卫星电视接收系统的重要组成部分，其质量优劣直接影响到卫星电视接收系统的收视效果。传统的，馈源普遍采用圆形波导，且口径大小不统一，这给波导法测量带来了极大困难。远场测量系统是在一个小型微波暗室中建立收、发装置，被测一体化室外单元置于接收装置上，发射装置安装标准发射喇叭。天线近场测量系统是一套在中心计算机控制下进行天线近场扫描、数据采集、测试数据处理及测试结果显示与输出的自动化测量系统。整个天线近场测试系统由硬件分系统和软件分系统两大部分构成。硬件分系统又可进一步分为测试暗室子系统-包括无反射测试室及附属机构，采样架子系统-包括多轴采样架及多轴步进电机、多轴运动控制器、伺服驱动器、近场测试探头、工业控制计算机及外设等。

其中，近场测试的单次测量结果没有意义，需要在相同设置下测量两次，通过两次结果的差值来判断改善效果，但是可重复性差，对人员素质要求较高；测量结果即EUT真实数据，也可以用两次测试结果的差值来判断改善效果，但是费用昂贵。两种测试方法在单独测试的时候各有利弊。

发明内容

本发明现有技术中存在的问题是近场测试的单次测量结果没有意义，需要在相同设置下测量两次，通过两次结果的差值来判断改善效果，但是可重复性差，对人员素质要求较高；测量结果即EUT真实数据，也可以用两次测试结果的差值来判断改善效果，但是费用昂贵。两种测试方法在单独测试的时候各有利弊，目的在于提供了近场和远场一体化测试系统，能够同时进行近场与远场测试，结合了两者的优点，同时去除了两者某些方面的缺点，可以提高测试的精度。

本发明通过下述技术方案实现：

近场和远场一体化测试系统，包括信号源、微波暗室、隔直流器、直流电源、近场测试设备、测试接收机，所述直流电源通过隔直流器与测试接收机相连接；所述近场测试设备设置在微波暗室内，微波暗室内设有导轨，近场测试设备设置在导轨上并可在导轨上滑动，微波暗室还设置有极化旋转装置、双圆极化喇叭天线、增益基准天线和转台，其中极化旋转装置与双圆极化喇叭天线相连接；增益基准天线与转台相连接；增益基准天线与隔直流器相连接，所述近场测试设备也与测试接收机相连。

本发明的测试系统，能够同时进行近场与远场测试，结合了两者的优点，同时去除了两者某些方面的缺点，可以提高测试的精度。其中，微波暗室内设有导轨，近场测试设备设置在导轨上并且可以在导轨上滑动，这样可以不断的调节近场测试设备与信号源之间的距离，使得探头可以采集不同点的数据，然后结合远场测试结果进行对比分析，大大的提高了测试精度，可以很好的完场测试需求。

所述测试接收机频谱仪或网络分析仪。

所述近场测试设备包括支撑结构、拱环、电箱、多个射频辐射信号采样探头、抱杆、载物架、转台、伺服电机，射频辐射信号采样探头按照一定角度间隔均匀设置在拱环上，拱环固定在支撑结构上，可以显著提高测试效率、测量精度，同时大大节约了场地范围，也提升了操作的便利性。

所述信号源距离微波暗室的垂直距离为2.8-3.0m，距离近场测试设备的距离为2.5-3.0m。

所述增益基准天线设置为水平极化方式。

本发明与现有技术相比，具有如下的优点和有益效果：

1、本发明近场和远场一体化测试系统，能够同时进行近场与远场测试，结合了两者的优点，同时去除了两者某些方面的缺点，可以提高测试的精度，微波暗室内设有导轨，近场测试设备设置在导轨上并且可以在导轨上滑动，这样可以不断的调节近场测试设备与信号源之间的距离，使得探头可以采集不同点的数据，然后结合远场测试结果进行对比分析，大大的提高了测试精度，可以很好的完场测试需求；

2、本发明近场和远场一体化测试系统，近场测试设备包括支撑结构、拱环、电箱、多个射频辐射信号采样探头、抱杆、载物架、转台、伺服电机，射频辐射信号采样探头按照一定角度间隔均匀设置在拱环上，拱环固定在支撑结构上，可以显著提高测试效率、测量精度，同时大大节约了场地范围，也提升了操作的便利性。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面结合实施例，对本发明作进一步的详细说明，本发明的示意性实施方式及其说明仅用于解释本发明，并不作为对本发明的限定。

实施例