[发明专利]一种LED灯具的结温测量方法有效
申请号: | 201710356061.5 | 申请日: | 2017-05-19 |
公开(公告)号: | CN106990368B | 公开(公告)日: | 2019-07-16 |
发明(设计)人: | 高群;客洪亮;王潇洵;荆雷;王尧;孙强 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | G01R31/44 | 分类号: | G01R31/44 |
代理公司: | 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 | 代理人: | 赵勍毅 |
地址: | 130033 吉林省长春*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 led 灯具 测量方法 | ||
本发明公开了一种LED灯具的结温测量方法。该LED灯具的结温测量方法包括:在LED光源加载电流脉冲;采集LED瞬间结电压响应;测量不同温度下LED的结电压响应,完成对LED光源的V‑t标定;测量LED灯具实际工作中LED光源的电流、电压值计算LED灯具的结温。本发明提供的LED灯具的结温测量方法能够测量LED灯具的结温,避免了加工工艺的不同、整体封装的差异、实际工作环境以及内部驱动电路输出的变化等对结温产生的影响。
技术领域
本发明涉及LED照明领域,具体涉及一种LED灯具的结温测量方法以。
背景技术
LED作为第四代新型能源,以其长寿命,高效节能等诸多优势被广泛应用于各大照明领域。LED照明产品因其绿色、节能、寿命长等优势正逐步取代传统照明产品。在LED可靠性方面很关键的问题之一在于解决LED器件PN结的热学问题,因此测量LED实际工作状态下的结温及热阻,对其可靠性评估以及散热设计方面具有重要意义。然而,目前的结温测量方法主要是针对单颗LED或LED模组,而LED灯具由于加工工艺的不同、整体封装的差异、实际工作环境以及内部驱动电路输出的变化都会对结温产生影响,单颗LED或LED模组结温测量很难反映出实际工况下LED灯具的结温。
发明内容
本发明旨在克服现有技术存在的缺陷,本发明采用以下技术方案:
本发明提供了一种LED灯具的结温测量方法。所述LED灯具的结温测量方法包括:一种LED灯具的结温测量方法,包括:在LED光源加载电流脉冲;采集LED瞬间结电压响应;测量不同温度下LED的结电压响应,完成对LED光源的V-t标定;测量LED灯具实际工作中LED光源的电流、电压值计算LED灯具的结温。
在一些实施例中,在所述步骤在LED光源加载电流脉冲之前还包括:将LED灯具放入恒温箱中,待其达到热平衡时LED灯具的结温与恒温箱温度一致。在一些实施例中,所述电流脉冲的脉冲幅值为LED光源额定电流。
在一些实施例中,所述测量不同温度下LED的结电压响应,完成对LED光源的V-t标定具体为分别在四个电流下并每间隔相同温度对LED光源进行V-t标定。
在一些实施例中,所述四个电流分别为:128mA、130mA、132mA、134mA。
在一些实施例中,所述间隔相同温度为间隔5℃。
在一些实施例中,所述步骤测量不同温度下LED的结电压响应,完成对LED光源的V-t标定之后还包括引入电流修正因子来补偿电流的变化。
在一些实施例中,所述电流修正因子的计算公式为:
Rs、I0分别为LED的内阻(Ω)、反向饱和电流(A),IR为电流实际测量值,W为温度电压当量。
在一些实施例中,所述测量LED灯具实际工作中LED光源的电流、电压值计算LED灯具的结温具体为:测量LED灯具在220V AC中的LED光源的电流、电压值计算LED灯具的结温。
在一些实施例中,所述采集LED瞬间结电压响应是通过高频数据采集卡采集得到。
本发明的技术效果:本发明提供的LED灯具的结温测量方法能够测量LED灯具的结温,避免了加工工艺的不同、整体封装的差异、实际工作环境以及内部驱动电路输出的变化等对结温产生的影响。
附图说明
图1为根据本发明一个实施例的LED灯具的结温测量方法的流程示意图;
图2为根据本发明一个实施例的LED灯具的结温测量方法的原理示意图;
图3为本发明一个实施例的LED灯具在不同电流下V-t标定结果。
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