[发明专利]光电传感器的修正方法和装置、电子设备和存储介质

权利要求书

1.一种光电传感器的修正方法，其特征在于，包括：

依据设定时间周期或当光电传感器的投光强度改变后，重新计算光电流修正系数并存储；

判断所述光电流修正系数的数值是否满足预设修正系数范围；

若所述光电流修正系数的数值不满足所述预设修正系数范围，则依据所述光电流修正系数与所述预设修正系数范围的关系，对应改变所述光电传感器的投光强度，重新计算所述光电流修正系数并存储，直至所述光电流修正系数满足所述预设修正系数范围；

获取所述光电传感器在当前投光强度下输出的工作光电流；

根据所述光电流修正系数将所述工作光电流修正到当前投光强度对应的无介质电流理论值；

根据所述无介质电流理论值计算所述光电传感器的工作采样电压。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述依据所述光电流修正系数与所述预设修正系数范围的关系，对应改变所述光电传感器的投光强度，包括：

若所述光电流修正系数的数值小于所述预设修正范围的最小值，则降低所述光电传感器的投光强度；

若所述光电流修正系数的数值大于所述预设修正范围的最大值，则增加所述光电传感器的投光强度。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据光电流修正系数将所述工作光电流修正到当前投光强度对应的无介质电流理论值包括：

根据公式I_B＝K×I_W计算所述无介质电流理论值，其中，I_B为所述无介质电流理论值，K为所述光电流修正系数，I_W为所述工作光电流。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述无介质电流理论值计算所述光电传感器的工作采样电压，包括：

根据公式V_t＝V_cc-K×I_W×R计算所述工作采样电压，其中，V_t为所述工作采样电压，V_cc为所述光电传感器的工作电压，R为所述光电传感器的输出上拉电阻。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述光电流修正系数的计算方法包括：

根据公式K＝(V_cc-V)/(V_cc-V_c)计算所述光电流修正系数，其中，V_c为所述光电传感器在当前投光强度下或在投光强度改变后的无介质采样电压值，V为在当前投光强度下所述光电传感器的最佳无介质电压理论值，V_cc为所述光电传感器的工作电压。

6.一种光电传感器的修正装置，其特征在于，包括：

光电流修正系数计算模块，用于依据设定时间周期或当光电传感器的投光强度改变后，重新计算光电流修正系数并存储；

判断所述光电流修正系数的数值是否满足预设修正系数范围；

若所述光电流修正系数的数值不满足所述预设修正系数范围，则依据所述光电流修正系数与所述预设修正系数范围的关系，对应改变所述光电传感器的投光强度，重新计算所述光电流修正系数并存储，直至所述光电流修正系数满足所述预设修正系数范围；

光电流获取模块，用于获取所述光电传感器在当前投光强度下输出的工作光电流；

光电流修正模块，用于根据所述光电流修正系数将所述工作光电流修正到当前投光强度对应的无介质电流理论值；

采样电压计算模块，用于根据所述无介质电流理论值计算所述光电传感器的工作采样电压。

7.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：

一个或多个处理器；

存储器，用于存储一个或多个程序，

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-5中任一所述的光电传感器的修正方法。

8.一种包含计算机可执行指令的存储介质，所述计算机可执行指令在由计算机处理器执行时用于执行如权利要求1-5中任一所述的光电传感器的修正方法。