[发明专利]检测电路、显示装置和检测方法有效
| 申请号: | 201710348962.X | 申请日: | 2017-05-17 |
| 公开(公告)号: | CN107025870B | 公开(公告)日: | 2021-02-19 |
| 发明(设计)人: | 张晋春;朱欢欢;陈龙;赵青青 | 申请(专利权)人: | 昆山龙腾光电股份有限公司 |
| 主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00 |
| 代理公司: | 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 | 代理人: | 蔡纯;张靖琳 |
| 地址: | 215301 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 检测 电路 显示装置 方法 | ||
本发明公开了检测电路、显示装置和检测方法,检测电路用于检测栅极驱动电路,栅极驱动电路包括多个栅极驱动单元,所述多个栅极驱动单元分别提供栅极驱动信号,检测电路至少包括:多个采样单元,所述多个采样单元用于分别对相应的一个所述栅极驱动单元提供的所述栅极驱动信号进行采样,所述多个采样单元的输出端相连于测试节点以在所述测试节点处得到所述栅极驱动信号的采样结果之和;以及下拉单元,其用于提供所述测试节点的电压下拉路径。从而实现了对栅极驱动电路中各栅极驱动单元出现的异常状况的提前定位,极大地降低了成本并节省了时间。
技术领域
本发明涉及显示技术领域,尤其涉及检测电路、显示装置和检测方法。
背景技术
显示装置一般包括显示面板、栅极驱动电路和源极驱动电路。其中,显示面板包括由多个像素单元形成的像素阵列,每个像素单元包含一个薄膜晶体管。在该像素阵列中,位于同一行的像素单元中的薄膜晶体管的栅极通过同一条栅极线与栅极驱动电路相连,栅极驱动电路通过多条栅极线逐行选通像素阵列中的各行像素单元;位于同一列的像素单元中的薄膜晶体管的源极或漏极通过同一条数据线与源极驱动电路相连,源极驱动电路通过多条数据线对各列像素单元施加灰阶电压,从而使显示面板呈现图像。
随着显示装置的发展,人们对实现窄边框化的显示装置的需求也越来越高。为了实现显示装置的窄边框,通常采用集成栅极驱动技术(Gate Driver In Array,GIA),即将栅极驱动电路与显示面板集成于同一基板上,这种技术不仅能够减少数以千计的走线、使显示装置更加对称和紧凑,还能降低成本、提高显示面板的分辨率和弯折度。然而,当栅极驱动电路存在异常时,现有技术很难提前检出该异常状况并且也很难确定栅极驱动电路中的哪一个或哪些栅极驱动单元存在异常,因此当显示装置中存在不合格的栅极驱动单元时,整个显示装置将成为不合格产品,从而极大地提高了成本。
鉴于以上所述,有必要提供一种可以实现栅极驱动电路及其中各栅极驱动单元的检测的显示装置。
发明内容
本发明要解决的主要技术问题是提供一种可以实现栅极驱动电路及其中各栅极驱动单元的检测的检测电路、显示装置以及检测方法。
根据本发明的第一方面,提供了一种用于栅极驱动电路的检测电路,其特征在于,所述栅极驱动电路包括多个栅极驱动单元,所述多个栅极驱动单元分别提供栅极驱动信号,所述检测电路至少包括:多个采样单元,所述多个采样单元用于分别对相应的一个所述栅极驱动单元提供的所述栅极驱动信号进行采样,所述多个采样单元的输出端相连于测试节点以在所述测试节点处得到所述栅极驱动信号的采样结果之和;以及下拉单元,其用于提供所述测试节点的电压下拉路径。
优选地,每个所述采样单元至少包括一个第一开关管,每个所述第一开关管的控制端与第一通路端相连并接收与该采样单元对应的所述栅极驱动信号,所述第一开关管的另一通路端与所述测试节点相连,当所述第一开关管的控制端接收到的所述栅极驱动信号有效时,该第一开关管导通。
优选地,所述下拉单元至少包括第二开关管,所述第二开关管的第一通路端接收低电平电压,所述第二开关管的第二通路端与所述测试节点相连以提供所述电压下拉路径,所述第二开关管的控制端接收使能信号,当使能信号有效时,所述下拉单元开启以在所述测试节点获得检测结果,当所述使能信号无效时,所述下拉单元关断以停止检测。
优选地,所述检测电路中包含的开关管均由薄膜晶体管实现。
优选地,所述下拉单元在所述测试节点处产生的下拉电流小于每个所述采样单元在所述测试节点处产生的驱动电流。
优选地,所述检测电路与所述栅极驱动电路集成于同一基板上。
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