[发明专利]屏蔽电缆的内导体与屏蔽层间短路的连接装置及连接方法

说明书

本发明提供一种屏蔽电缆的内导体与屏蔽层间短路的连接装置及连接方法，连接装置，包括：屏蔽管；沿着屏蔽管的轴向，在屏蔽管的内壁上依次安装有环形的锁紧部件和环形的传导件；锁紧部件夹紧插入于所述屏蔽管内的待测的屏蔽电缆的屏蔽层；传导件中穿设有顶针，且顶针插入于待测的屏蔽电缆的内导体中；屏蔽管、锁紧部件、传导件和顶针均为导体。采用本发明的连接装置，不需要对待测的屏蔽电缆进行焊接，连接装置的锁紧部件、传导件和顶针的安装、拆卸方便，操作简便快捷。

技术领域

本发明涉及屏蔽电缆的测试技术领域，特别是涉及一种屏蔽电缆的内导体与屏蔽层间短路的连接装置及连接方法。

背景技术

在测试屏蔽电缆的某些性能时，经常要求将屏蔽电缆的屏蔽层与内导体短路，如图1所示，内屏蔽系统1的短路端11与待测的屏蔽电缆2的内导体21焊接，屏蔽电缆2的屏蔽层22与内屏蔽系统1焊接，内导体21的远离内屏蔽系统1的一端与信号发生器3连接，内屏蔽系统1的短路端11与信号接收器4连接。原有的技术是将屏蔽电缆的内导体与屏蔽层用焊接的方法短路，但是这种方法仅适用于小线径屏蔽电缆。对于充电桩电缆、道路交通用等类型电缆，其内导体并非常规的单根实心导体或多根绞线结构，通常由几十根甚至几百根金属丝组成，并且屏蔽层外径较大，采用焊接的方法操作非常不便，而且焊接操作时，由于内导体的线径较粗，必需使用大功率烙铁，否则焊接不上并且很容易出现安全问题，在测试过程中很可能内导体与屏蔽层之间焊点不牢靠导致断裂使得无法测试，或者内导体与屏蔽层之间的焊点过大导致测试数据出现偏差。

发明内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明要解决的技术问题在于提供一种屏蔽电缆的内导体与屏蔽层间短路的连接装置及连接方法。

为了解决上述技术问题，本发明提供一种屏蔽电缆的内导体与屏蔽层间短路的连接装置，包括：屏蔽管；沿着所述屏蔽管的轴向，在所述屏蔽管的内壁上依次安装有环形的锁紧部件和环形的传导件；所述锁紧部件夹紧插入于所述屏蔽管内的待测的屏蔽电缆的屏蔽层；所述传导件中穿设有顶针，且所述顶针插入于所述待测的屏蔽电缆的内导体中；所述屏蔽管、所述锁紧部件、所述传导件和所述顶针均为导体。

优选地，所述传导件与所述屏蔽电缆接触。

优选地，所述锁紧部件的中轴线与所述传导件的中轴线共线。

优选地，所述传导件与所述屏蔽管的内壁为螺纹连接。

优选地，所述锁紧部件包括：锁紧套筒和两个半圆环形的屏蔽环，所述锁紧套筒的其中一端的内壁为锥形，每个所述屏蔽环其中一端的外壁的直径向外逐渐减小，两个所述屏蔽环套在所述待测的屏蔽电缆的屏蔽层上，所述锁紧套筒的内壁为锥形的一端套在两个所述屏蔽环的外壁的直径向外逐渐减小的一端上，所述锁紧套筒安装于所述屏蔽管中。

进一步地，所述屏蔽管的一端上设有阻挡部，两个所述屏蔽环抵靠于所述阻挡部上。

进一步地，所述锁紧套筒的外壁与屏蔽管的内壁为螺纹连接。

本发明还涉及一种屏蔽电缆的内导体与屏蔽层间短路的连接方法，采用所述的屏蔽电缆的内导体与屏蔽层间短路的连接装置，包括以下步骤：

1)将待测的屏蔽电缆的屏蔽层插入所述锁紧部件中，将所述锁紧部件安装在屏蔽管中，且所述锁紧部件夹紧所述待测的屏蔽电缆的屏蔽层；

2)将传导件安装于所述屏蔽管中；

3)将顶针穿设于所述传导件中，且使所述顶针插入于所述待测的屏蔽电缆的内导体中。

优选地，在步骤3)中，当所述传导件与所述屏蔽管内的待测的屏蔽电缆接触时，所述传导件安装完成。