[发明专利]一种包装膜剪切控制系统及方法有效

专利信息
申请号: 201710334844.3 申请日: 2017-05-12
公开(公告)号: CN107284751B 公开(公告)日: 2020-05-26
发明(设计)人: 郭福坤 申请(专利权)人: 深圳市汇川控制技术有限公司
主分类号: B65B41/12 分类号: B65B41/12;B65B57/04;B65B61/06
代理公司: 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217 代理人: 陆军
地址: 518000 广东省深圳市福*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 包装 剪切 控制系统 方法
【权利要求书】:

1.一种包装膜剪切控制系统,包括拉膜轴、切刀轴、控制装置以及设置在包装膜运行路径上且位于拉膜轴上游的色标传感器;其特征在于,所述控制装置包括补偿计算单元和虚轴,所述虚轴与所述拉膜轴、所述切刀轴形成凸轮啮合关系;

所述色标传感器用于在每检测到所述包装膜上的一个色标时,发送检测信号;

所述补偿计算单元用于根据所述检测信号对应的虚轴位置计算调整量,所述调整量用于调整拉膜轴的运行,所述调整包括对拉膜轴的运行速度进行调整和/或对拉膜轴的运行偏差进行调整;

所述控制装置还包括拉膜从轴和切刀从轴,所述补偿计算单元包括虚轴位置锁存器,所述补偿计算单元还包括从轴缩放模块和/或运动叠加模块;

所述拉膜从轴,用于向所述拉膜轴输出第一驱动信号;所述第一驱动信号驱动所述拉膜轴与所述虚轴按1:1的关系啮合;

所述切刀从轴,用于向所述切刀轴输出第二驱动信号;所述第二驱动信号驱动所述切刀轴与所述虚轴按飞剪凸轮曲线关系啮合;

所述虚轴位置锁存器,用于在每接收到所述检测信号时,记录所述虚轴的位置;

所述从轴缩放模块,用于将所述虚轴位置锁存器锁存的两个连续的检测信号间的所述虚轴的位置及虚轴转动速度,计算运行时间,进而计算该运行时间与理论周期比值,将该比值作为从轴缩放比例;

所述运动叠加模块用于根据记录的虚轴位置,计算检测信号对应的色标检测相位以及所述色标检测相位与预设的理论相位的相位偏差,所述拉膜从轴将所述相位偏差作为调整量调整向所述拉膜轴输出的第一驱动信号;

所述拉膜从轴,将所述从轴缩放比例和/或所述相位偏差作为调整量调整向所述拉膜轴输出的第一驱动信号。

2.如权利要求1所述的包装膜剪切控制系统,其特征在于,所述控制装置为可编程逻辑控制器PLC。

3.一种包装膜剪切控制方法,其特征在于,包括:

色标传感器在每检测到包装膜上的一个色标时,向控制装置发送检测信号;所述色标传感器设置在包装膜运行路径上且位于拉膜轴上游;

控制装置根据检测信号对应的虚轴位置计算调整量,并根据所述调整量调整所述拉膜轴的运行;所述拉膜轴、切刀轴与所述虚轴形成凸轮啮合关系,所述调整包括对拉膜轴的运行速度进行调整和/或对拉膜轴的运行偏差进行调整;

所述控制装置根据检测信号对应的虚轴位置计算调整量,并根据所述调整量调整所述拉膜轴的运行,具体包括:

在每接收到所述检测信号时,记录所述虚轴的位置;

将虚轴位置锁存器锁存的两个连续的检测信号间的所述虚轴的位置及虚轴转动速度,计算运行时间,进而计算该运行时间与理论周期比值,将该比值作为从轴缩放比例,以根据所述从轴缩放比例调整所述拉膜轴的运行速度;和/或,

在每接收到所述检测信号时,记录所述虚轴的位置;

根据记录的虚轴位置,计算检测信号对应的色标检测相位以及所述色标检测相位与预设的理论相位的相位偏差,以根据所述相位偏差调整所述拉膜轴的运行偏差。

4.如权利要求3所述的包装膜剪切控制方法,其特征在于,所述控制装置为可编程逻辑控制器PLC。

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