[发明专利]室内覆盖天线的验收方法和装置

说明书

本发明公开了一种室内覆盖天线的验收方法和装置。该方法包括：获取天馈平面图中的天线位置和天馈平面图的比例尺；获取室分器件的拓扑结构，室分器件包括天线和天线的上级器件；根据天线的位置、比例尺和拓扑结构，生成室分器件的图形信息数据库；根据天线的位置采集天线的测试数据；将测试数据与图形信息数据库中天线的位置逐一匹配，并计算匹配成功的天线功率；天线功率大于或者等于判决门限，验收天线。本发明实施例可以通过根据天线的位置、比例尺和拓扑结构，生成室分器件的图形信息数据库，再通过将测试数据与图形信息数据库中天线的位置逐一匹配，可以实现入网室分天线点功率自动、全量验收，提高了天线验收的效率。

技术领域

本发明涉及无线通信技术领域，尤其涉及一种室内覆盖天线的验收方法和装置。

背景技术

随着无线通信技术的快速发展，室内网络信号覆盖逐渐向深度覆盖方向发展。为了保证室内网络信号的良好覆盖，通信企业建设了大量的LTE(Long Term Evolution，长期演进)室内分布系统(简称：室分)。由于室分器件(例如，天线)数量较多、覆盖复杂(现网中天线暗装占比较高)，所以针对室分器件的验收工作量非常大，且验收的难度较高。

现有的针对室分器件的验收方法主要采用人工现场随机抽检的测试方式，抽检比例大约10％。现有的针对室分器件的验收方法存在以下技术问题：验收时间长、入网室分天线点无法全量验收、验收自动化不足、验收精度低等问题。由于验收效率较低，直接影响了室分信号深度覆盖。

如何提高室内覆盖天线的验收效率，成为业界亟待解决的问题。

发明内容

为了提高室内覆盖天线的验收效率，本发明实施例提供了一种室内覆盖天线的验收方法和装置。

第一方面，提供了室内覆盖天线的验收方法。该方法包括以下步骤：

获取天馈平面图中的天线的位置和天馈平面图的比例尺；

获取室分器件的拓扑结构，室分器件包括天线和天线的上级器件；

根据天线的位置、比例尺和拓扑结构，生成室分器件的图形信息数据库；

根据天线的位置采集天线的测试数据；

将测试数据与图形信息数据库中天线的位置逐一匹配，并计算匹配成功的天线功率；

天线功率大于或者等于判决门限，验收天线。

第二方面，提供了室内覆盖天线的验收装置。该装置包括：

第一获取单元，用于获取天馈平面图中的天线的位置和天馈平面图的比例尺；

第二获取单元，用于获取室分器件的拓扑结构，室分器件包括天线和天线的上级器件；

数据库生成单元，用于根据天线的位置、比例尺和拓扑结构，生成室分器件的图形信息数据库；

数据采集单元，用于根据天线的位置采集天线的测试数据；

功率计算单元，用于将测试数据与图形信息数据库中天线的位置逐一匹配，并计算匹配成功的天线功率；

天线验收单元，用于天线功率大于或者等于判决门限，验收天线。

由此，本发明实施例可以通过根据天线的位置、比例尺和拓扑结构，生成室分器件的图形信息数据库，可以将图纸转换为测试软件可应用的矢量图层，再通过将测试数据与图形信息数据库中天线的位置逐一匹配，可以实现入网室分天线点功率自动、全量验收，提高了天线验收的效率。

附图说明