[发明专利]一种核电厂IC设备老化生命周期的管理方法及系统

说明书

本发明涉及一种核电厂IC设备老化生命周期的管理方法及系统，该管理方法包括：对每个IC设备进行生命周期评估，以分别获得每个IC设备的老化生命周期；根据所述老化生命周期对所述IC设备进行老化处理。实施本发明的技术方案，可有效降低核电厂IC设备老化失效的概率，有效提升了核电站IC设备的可靠性，有效保证核电机组可靠稳定运行，对保证核安全具有明显作用和贡献。

技术领域

本发明涉及核电领域，尤其涉及一种核电厂IC设备老化生命周期的管理方法及系统。

背景技术

核电机组的设计寿命一般在40年左右，部分在役运行的核电机组还会延寿至60年，而核电厂IC(InstrumentControl，仪表控制)设备的运行寿命远小于核电机组的设计寿命。随着核电机组的持续运行，IC设备会逐步老化，其失效概率也会逐渐增大。如果IC设备失效将直接导致控制或者保护功能退化，同时使设计要求的可靠性和安全裕度降低，对核电机组的安全和稳定运行带来影响，特别是关键敏感IC设备的老化失效或者故障无疑会引发核电机组瞬态、反应堆自动停堆保护或者其他重大事件。核电厂IC设备的预防性老化更换处理是保证设备可靠性的一种有效策略，但如何针对性地制定相应的老化和寿命管理措施、选择适合的行动类别和恰当的实施时机对核电厂的安全性和经济性，特别是核安全都会产生重要影响，但现未有一种完善有效的核电厂IC设备老化生命周期评估及老化实施方法。

发明内容

本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种核电厂IC设备老化生命周期的管理方法及系统。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：构造一种核电厂IC设备老化生命周期的管理方法，包括：

A.对每个IC设备进行生命周期评估，以分别获得每个IC设备的老化生命周期；

B.根据所述老化生命周期对所述IC设备进行老化处理。

优选地，所述步骤A包括下列中的至少一个步骤：

A1.通过老化试验设备生命周期评估法，对所述IC设备中的设备i进行生命周期评估，以获得所述设备i的老化生命周期T_i-M：

T_i-M＝λ_T*λ_H*λ_P*λ_R*T′_i-M

其中，T′_i-M为通过试验数据获取的特定工况下设备i的老化生命周期，λ_T为温度修正系数，λ_H为湿度修正系数，λ_P为压力修正系数，λ_R为辐射修正系数；

A2.通过标准规范设备生命周期评估法，对所述IC设备中的设备i进行生命周期评估，以获得所述设备i的老化生命周期T_i-S：

T_i-S＝min(T₁，T₂，...，T_k)

其中，所述设备i包含老化敏感性的元件1、2、…、k，T₁为标准和规范设定的元件1的生命周期，T₂为标准和规范设定的元件2的生命周期，T_k为标准和规范设定的元件k的生命周期。

A3.通过失效数据设备生命周期评估法，对所述IC设备中的设备i进行生命周期评估，以获得所述设备i的老化生命周期T_i-E：

其中，n为设备i的样本数量,且n≥3，为失效样本的平均生命周期，S为失效样本生命周期的标准差，t_α(n-1)通过查询t分布表方式获得。