[发明专利]一种高分辨率负电平检测电路有效
申请号: | 201710274231.5 | 申请日: | 2017-04-25 |
公开(公告)号: | CN107085138B | 公开(公告)日: | 2019-05-21 |
发明(设计)人: | 明鑫;张文林;鲁信秋;张宣;王卓;张波 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学;电子科技大学广东电子信息工程研究院 |
主分类号: | G01R19/25 | 分类号: | G01R19/25 |
代理公司: | 成都点睛专利代理事务所(普通合伙) 51232 | 代理人: | 敖欢;葛启函 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 高分辨率 电平 检测 电路 | ||
一种高分辨率负电平检测电路,属于电源管理技术领域。本发明在一个周期内工作在钳位运放模式和比较器模式,通过模式切换的方式将失调产生电阻R4上产生的压降△VR4复制,实现了对同步调整管的漏源电压在‑5mV时的负电平检测;为了使失调产生电阻R4上的压降△VR4恒定,引入由第十七PMOS管MP17和第十八PMOS管MP18构成的差分对;另外,为了消除工艺偏差带来的影响,引入修调电阻R3对失调产生电阻R4的压降△VR4进行修调。本发明实现了负电平的精确检测,分辨率可以达到毫伏级,能够满足对自适应同步整流控制电路的应用需求。
技术领域
本发明属于电源管理技术领域,具体的说涉及一种高分辨率负电平检测电路。
背景技术
同步整流技术利用低导通电阻的MOSFET代替常规的二极管或肖特基管,可以大大降低整流部分的功耗,提高变换器的性能,实现电源的高效率。一种采用自驱动同步整流技术的电路拓扑如图1所示,芯片采样同步整流管的漏极和源极电压,通过内部逻辑来控制同步整流管的栅极,实现同步整流管的开启与关闭。具体的内部逻辑是:当第一负电平检测器检测到同步整流管的漏源电压VDS<-150mV时,同步整流管的栅极输出GATE为高电平,同步整流管开启;当第二负电平检测器检测到同步整流管的漏源电压VDS>-5mV时,同步整流管的栅极输出GATE为低电平,同步整流管关闭。其中,对于步整流管的漏源电压在-5mV电平的检测是一大难点。
发明内容
本发明提供一种应用于DC/DC同步整流电路中的高分辨率负电平检测电路,能够检测同步整流管的漏源电压VDS,满足同步整流控制电路的需要。
本发明的技术方案为:
一种高分辨率负电平检测电路,包括偏置电路、运算放大器、开关控制单元、VDS采样管、反相器电路和失调产生电阻R4;
所述偏置电路包括第一电阻R1、第二电阻R2、第一电容C1、第一NMOS管MN1、第二NMOS管MN2、第三NMOS管MN3、第四NMOS管MN4、第一PMOS管MP1、第二PMOS管MP2、第三PMOS管MP3、第九PMOS管MP9、第十PMOS管MP10和第十一PMOS管MP11,
第一电阻R1和第二电阻R2串联,其串联点通过第一电容C1后接地,第一电阻R1的另一端接等效的基准电压V1,第二电阻R2的另一端接第一NMOS管MN1的栅极和漏极以及第二NMOS管MN2的栅极,第一NMOS管MN1和第二NMOS管MN2的源极接地,第二NMOS管MN2的漏极接第九PMOS管MP9的漏极、第九PMOS管MP9、第十PMOS管MP10和第十一PMOS管MP11的栅极,
第三NMOS管MN3的栅漏短接并连接第十PMOS管MP10的漏极,第四NMOS管MN4的栅漏短接并连接第十一PMOS管MP11的漏极,第一PMOS管的栅漏短接并连接第九PMOS管MP9的源极、第二PMOS管MP2和第三PMOS管MP3的栅极,第二PMOS管MP2的漏极接第十PMOS管MP10的源极,第三PMOS管MP3的漏极接第十一PMOS管MP11的源极,第一PMOS管MP1、第二PMOS管MP2和第三PMOS管MP3的源极接电源电压VCC;
所述高分辨率负电平检测电路还包括修调电阻R3,所述运算放大器还包括失调采样单元;
所述开关控制单元包括第十NMOS管MN10、第十一NMOS管MN11、第十二NMOS管MN12、第十五NMOS管MN15和第十六NMOS管MN16,
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