[发明专利]电致发光显示面板的驱动方法、其驱动装置及显示装置

说明书

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤指一种电致发光显示面板的驱动方法、其驱动装置及显示装置。

背景技术

有机发光二极管(Organic Light Emitting Display,OLED)显示面板按照驱动方式可以分为无源矩阵型OLED(Passive Matrix OLED,PMOLED)显示面板和有源矩阵型OLED(Active Matrix OLED,AMOLED)显示面板两大类，其中，AMOLED显示面板具有呈阵列式排布的像素，属于主动显示类型，具有发光效能高、对比度高、视角宽等优点，通常被用于高清晰的大尺寸显示装置。

然而，对于AMOLED显示面板目前最大的问题在于显示残像，即由于画面长时间静止，在画面切换后，原先明亮的部分仍然会有部分影子残留在画面里，从而出现残像；究其原因，是由于AMOLED显示面板中存在着较多的薄膜晶体管，且制作工艺负责，要求精度较高，使得在制作AMOLED显示面板的过程中，因制作工艺的影响，导致显示面板内部的各薄膜晶体管的长宽比参数不一致，使得各薄膜晶体管的阈值电压产生差异，进而使得位于各像素区内的发光二极管的发光情况不同，从而出现残像。

目前，为了解决残像问题，在AMOLED显示面板的每一帧显示画面之内都会设置初始化时间，即对各像素区内的电容进行放电，以消除上一帧显示信号对下一帧显示信号的影响，达到消除残像的目的；但因显示面板的长时间使用或高温信赖性测试产生的高温，会严重影响各薄膜晶体管阈值电压的稳定性，使阈值电压发生漂移，导致残像问题加重；基于此，如何在高温环境下，消除AMOLED显示面板的残像，是本领域技术人员亟待解决的技术问题。

发明内容

本发明实施例提供一种电致发光显示面板的驱动方法、其驱动装置及显示装置，用以解决现有技术中如何在高温环境下，消除AMOLED显示面板残像的问题。

本发明实施例提供了一种电致发光显示面板的驱动方法，包括：

按照设定的时间间隔，检测所述电致发光显示面板的温度；

在确定检测到的所述电致发光显示面板的温度大于预设的第一阈值温度时，将所述电致发光显示面板的扫描频率调整为低于标准扫描频率。

在一种可能的实施方式中，在本发明实施例提供的上述驱动方法中，所述将所述电致发光显示面板的扫描频率调整为低于标准扫描频率，具体包括：

确定检测到的所述电致发光显示面板的温度所属的温度区间；

根据各所述温度区间与扫描频率的对应关系，将所述电致发光显示面板的扫描频率，调整至与检测到的所述电致发光显示面板的温度所属的温度区间对应的扫描频率。

在一种可能的实施方式中，在本发明实施例提供的上述驱动方法中，所述确定检测到的所述电致发光显示面板的温度所属的温度区间，具体包括：

确定检测到的所述电致发光显示面板的温度是否大于预设的第二阈值温度；

若是，则确定检测到的所述电致发光显示面板的温度属于第一温度区间；

若否，则确定检测到的所述电致发光显示面板的温度属于第二温度区间；

所述第二阈值温度大于所述第一阈值温度。

在一种可能的实施方式中，在本发明实施例提供的上述驱动方法中，所述第一温度区间对应的扫描频率小于所述第二温度区间对应的扫描频率。

在一种可能的实施方式中，在本发明实施例提供的上述驱动方法中，所述按照设定的时间间隔，检测所述电致发光显示面板的温度，具体包括：

在每帧的显示时间内，均检测一次所述电致发光显示面板的温度。

在一种可能的实施方式中，在本发明实施例提供的上述驱动方法中，还包括：

在确定检测到的所述电致发光显示面板的温度不大于预设的第一阈值温度时，将所述电致发光显示面板的扫描频率设置为所述标准扫描频率。

本发明实施例还提供了一种电致发光显示面板的驱动装置，包括：

检测单元，用于按照设定的时间间隔，检测所述电致发光显示面板的温度；

确定单元，用于确定检测到的所述电致发光显示面板的温度是否大于预设的第一阈值温度；

调整单元，用于在确定检测到的所述电致发光显示面板的温度大于预设的第一阈值温度时，将所述电致发光显示面板的扫描频率调整为低于标准扫描频率。

在一种可能的实施方式中，在本发明实施例提供的上述驱动装置中，所述确定单元，还用于确定检测到的所述电致发光显示面板的温度所属的温度区间；