[发明专利]正电子发射断层成像系统及其图像重建方法有效

专利信息
申请号: 201710258643.X 申请日: 2017-04-19
公开(公告)号: CN106963407B 公开(公告)日: 2022-03-01
发明(设计)人: 李弘棣;董筠;吕杨 申请(专利权)人: 上海联影医疗科技股份有限公司
主分类号: G01T1/161 分类号: G01T1/161
代理公司: 北京华进京联知识产权代理有限公司 11606 代理人: 樊春燕
地址: 201807 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 正电子 发射 断层 成像 系统 及其 图像 重建 方法
【权利要求书】:

1.一种正电子发射断层成像系统,包括:

多个沿着轴向排列的探测器单元,每一探测器单元适于产生多个单事件计数;

多个符合逻辑电路,每一符合逻辑电路连接到一个或多个对应的探测器单元,其中各探测器单元产生的单事件数据发送到对应的符合逻辑电路,该多个符合逻辑电路并行地产生该多个探测器单元的符合计数;所述符合逻辑电路的数量小于或等于探测器单元的数量;

第N个探测器单元仅与编号在后的探测器单元存在符合配对关系,其中N小于K,K为探测器单元的总数,N、K为自然数;所述符合配对关系由所述符合逻辑电路负责。

2.根据权利要求1所述的正电子发射断层成像系统,其特征在于,所述探测器单元由探测元件和信号处理电路构成。

3.根据权利要求1所述的正电子发射断层成像系统,其特征在于,每一符合逻辑电路通过数据总线与对应的一个或多个探测器单元连接。

4.根据权利要求1所述的正电子发射断层成像系统,其特征在于,还包括第一处理器,该第一处理器连接到该多个符合逻辑电路,各符合逻辑电路产生的符合计数发送到该第一处理器,该第一处理器对符合计数进行反向投影,所述正电子发射断层成像系统使用该反向投影进行正投影。

5.根据权利要求1所述的正电子发射断层成像系统,其特征在于,还包括多个第一处理器,每一第一处理器连接到一个或多个符合逻辑电路,各符合逻辑电路产生的符合计数发送到与其连接的第一处理器,该多个第一处理器并行地对符合计数进行反向投影。

6.根据权利要求5所述的正电子发射断层成像系统,其特征在于,还包括一个第二处理器,该第二处理器连接到一个或多个第一处理器,各第一处理器产生的反向投影发送到第二处理器,第二处理器对反向投影进行叠加,所述正电子发射断层成像系统使用叠加的反向投影进行正投影。

7.一种用于正电子发射断层成像系统的图像重建方法,包括以下步骤:

在多个沿着轴向排列的探测器单元中的每一探测器单元产生多个单事件计数;

将各探测器单元产生的单事件数据发送到对应的符合逻辑电路,该多个符合逻辑电路连接到一个或多个对应的探测器单元,且并行地产生该多个探测器单元的符合计数;所述符合逻辑电路的数量小于或等于探测器单元的数量;

第N个探测器单元仅与编号在后的探测器单元存在符合配对关系,其中N小于K,K为探测器单元的总数,N、K为自然数;所述符合配对关系由所述符合逻辑电路负责。

8.根据权利要求7所述的用于正电子发射断层成像 系统的图像重建方法,其特征在于,所述多个探测器单元产生的单事件数据均匀地分配到各符合逻辑电路进行符合计数。

9.根据权利要求1所述的正电子发射断层成像系统,其特征在于,至少部分符合逻辑电路对来自同一探测器单元的单事件数据进行符合计数。

10.根据权利要求1所述的正电子发射断层成像系统,其特征在于,至少部分符合逻辑电路对来自不同探测器单元的单事件数据进行符合计数。

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