[发明专利]雷达装置和雷达检测方法在审

专利信息
申请号: 201710256177.1 申请日: 2017-04-19
公开(公告)号: CN107390178A 公开(公告)日: 2017-11-24
发明(设计)人: 赵显东 申请(专利权)人: 株式会社万都
主分类号: G01S7/02 分类号: G01S7/02
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司11002 代理人: 王莹,王朋飞
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 雷达 装置 检测 方法
【说明书】:

本发明公开的实施例涉及一种雷达装置,并且更特别地,涉及一种具有减少内部反射波的影响、能够防止目标感测性能免受雷达装置内反射的反射波劣化的结构同时具有能够保护天线免受外部损坏的盖结构的雷达装置。

相关申请的交叉引用

本申请要求于2016年4月19日提交的申请号为10-2016-0047841的韩国专利申请的优先权,其通过引用并入本文用于所有目的像在此充分阐述。

技术领域

本文公开的实施例涉及一种雷达装置和雷达检测方法。

背景技术

雷达装置是一种用于检测在附近的目标的传感器并广泛用于包括民用领域和军事领域的各种领域中。

这种雷达装置安装在车辆、飞机等上并正与各种应用技术融合使用。

例如,当在车辆中装备雷达装置时,雷达装置感测在装备有雷达装置的车辆前方的周边障碍物例如车辆或行人,并且装备有雷达装置的车辆的控制系统可以通过使用雷达装置的检测结果执行控制以允许车辆避开障碍物。在另一示例中,装备在车辆中的雷达装置可以感测车辆前面的车辆,并且车载控制系统可以使用雷达装置的检测结果执行控制以使车辆跟随前面的车辆。

为了确保雷达装置执行对目标的精确感测,正常发射信号必须从雷达装置辐射,并且作为从目标反射的辐射波的反射波通常必须到达接收天线。

然而,当包含在雷达装置中的天线(发射天线或接收天线)有瑕疵或受灰尘或污垢污染时,可能会引起异常天线形状或波束图案。

因此,正常发射信号未从雷达装置辐射,或辐射的发射信号的从目标反射的反射波未正常地到达接收天线,使得目标感测性能可能被显著地劣化。

发明内容

实施例的目的是提供一种具有能够保护天线免受外部损坏的盖结构的激光装置。

进一步地,实施例的另一个目的是提供一种具有减少内部反射波的影响、能够防止目标感测性能免受雷达装置内反射的反射波劣化的结构同时具有能够保护天线免受外部损坏的盖结构的雷达装置。

在一方面,实施例可以提供一种雷达装置,其包括:至少一个发射天线,其被构造成输出具有预定发射偏振角的发射偏振信号;至少一个接收天线,其被构造成接收具有预定接收偏振角的接收偏振信号;以及下壳体和上盖,其被构造成容纳至少一个发射天线和至少一个接收天线。

在雷达装置中,第一发射侧电介质、第一发射侧带状导体、发射侧铁磁材料、第二发射侧带状导体和第二发射侧电介质可以按那个顺序堆叠在发射天线和上盖之间。

在雷达装置中,第一接收侧电介质、第一接收侧带状导体、接收侧铁磁材料、第二接收侧带状导体和第二接收侧电介质可以按那个顺序堆叠在接收天线和上盖之间。

在雷达装置中,发射天线的发射偏振角和接收天线的接收偏振角可以彼此相差90度。

在另一方面,实施例可以提供一种雷达装置,其包括:至少一个发射天线,其被构造成输出具有预定发射偏振角的发射偏振信号;至少一个接收天线,其被构造成接收具有预定接收偏振角的接收偏振信号;以及下壳体和上盖,其被构造成容纳至少一个发射天线和至少一个接收天线。

在雷达装置中,在至少一个发射天线和上盖之间,可以存在发射侧铁磁材料,并且可进一步存在定位在发射侧铁磁材料上方的第一发射侧带状导体和/或定位在发射侧铁磁材料下方的第二发射侧带状导体。

在至少一个接收天线和上盖之间,可以存在接收侧铁磁材料,并且可进一步存在定位在接收侧铁磁材料上方的第一接收侧带状导体和/或定位在接收侧铁磁材料下方的第二接收侧带状导体。

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