[发明专利]一种面板定位系统及方法

说明书

本发明提供了一种面板定位系统及方法，用于对待定位面板进行定位，所述面板定位系统包括：高能束发射装置，用于以扫描的方式向待定位面板发射高能束；谱线测定装置，用于确定出所述定位标记放射出的谱线；与所述谱线测定装置通信的控制器，用于根据所述高能束发射到所述待定位面板上的位置以及所述谱线测定装置确定出的定位标记确定所述定位标记的位置。通过测定待定位面板放射出的特定谱线的波长和强度进行定位，从而避免了由于待定位面板的上层膜、定位膜层或下层膜凹凸不平等异常而导致的定位失败，提高了定位的精确性，进而提高了待定位面板的利用率。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，具体涉及一种面板定位系统及方法。

背景技术

在显示技术领域，显示面板通常需要经过前段基板制造(Array制程)、中段面板组装(Cell制程)、后段模组组装(Module制程)，而其中的每一制程对各部件的精确定位都有较高的要求。因此，在现有技术中常采用在基板上设置定位标记，通过抓取该定位标记来实现面板定位的精度。

在现有技术中常使用基板标记位置抓取装置对基板上的标记位置进行抓取。该抓取装置包括承载平台及对位摄像机，承载平台用于承载基板，对位摄像机位于设置于承载平台的上方，用于抓取所述基板上的标记所在区域的图像，所述承载平台上设有反光面，所述反光面的位置与所述反光面用于加强所述承载平台在所述反光面区域反射光线的能力。

然而，在上述技术方案中，设备抓取定位标记主要是依靠在基板上的定位标记膜层的灰度及形状通过对位摄像机或图像传感器扫描来抓取，定位标记膜层的上层膜、下层膜或定位标记层膜本身任意一层膜出现凹凸不平等异常，都会导致定位标记抓取失败，基板无法定位对准而报废。

发明内容

因此，本发明要解决的技术问题在于克服现有技术中的采用对位摄像机或图像传感器扫描抓取定位标记的方式容易导致定位标记抓取失败，进而导致基板无法定位对准而报废，从而提供一种面板定位系统及方法。

本发明实施例的一方面，提供了一种面板定位系统，包括：高能束发射装置，用于向待定位面板发射高能束，其中，所述待定位面板上预先形成有定位标记，所述定位标记在所述高能束的轰击下放射出的谱线与所述待定位面板其它部分在所述高能束的轰击下放射出的谱线不同；

谱线测定装置，用于确定出所述定位标记放射出的谱线；

与所述谱线测定装置通信的控制器，用于根据所述高能束发射到所述待定位面板上的位置以及所述谱线测定装置确定出的定位标记确定所述定位标记的位置。

本发明提供的面板定位系统，根据测定待定位面板放射出的特定谱线的波长和强度进行定位，避免了由于待定位面板的上层膜、定位层膜或下层膜凹凸不平等异常而导致的定位失败，提高了定位的精确性，进而提高了待定位面板的利用率。

可选地，所述谱线测定装置与所述高能束发射装置一体设置。

本发明提供的面板定位系统，通过将谱线测定装置与高能束发射装置一体设置，简化了定位系统的结构，其制作工艺简单，易于批量化实现。

可选地，所述控制器还用于控制所述高能束发射装置移动的位置，并根据来自所述谱线测定装置的信息控制所述高能束发射装置移动，直到所述谱线测定装置确定出的定位标记。

本发明提供的面板定位系统，通过控制器实现系统的自动定位，结构简单，操作灵活，易于实现。

可选地，所述高能束发射装置以行扫描方式或列扫描方式向所述待定位面板发射高能束。

本发明提供的面板定位系统，高能束发射装置通过扫描方式发射高能束，可实现快速定位，保证实现定位的精确性。

可选地，所述控制器构造为根据所述高能束发射装置的位置确定出所述高能束发射到所述待定位面板上的位置；