[发明专利]一种接近传感器的校准方法及装置

权利要求书

1.一种接近传感器校准方法，其特征在于，所述方法包括：

采集接近传感器的静态数据；

计算所述静态数据的平均值，获得所述接近传感器的平均静态数据；

将所述平均静态数据与预设范围作比较；

如果所述平均静态数据超出所述预设范围，改变到达所述接近传感器的光束的数量，以触发所述接近传感器因感应所述光束的数量而形成的静态数据发生改变。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述改变到达所述接近传感器的光束的数量，触发所述接近传感器因感应所述光束的数量而形成的静态数据发生改变包括：

通过调整所述接近传感器的透镜位置而改变所述接近传感器的透镜的有效工作距离，触发通过所述透镜到达所述传感器的光束数量跟随所述有效工作距离而改变，使得所述接近传感器因感应所述光束的数量而形成的静态数据发生改变。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述调整所述接近传感器的透镜位置改变所述接近传感器的透镜的有效工作距离包括：

通过缩小所述透镜的有效工作距离，触发所述透镜至所述传感器的光源的距离同步缩小，并触发通过所述透镜到达所述传感器的光束数量同步增多，使得所述接近传感器因感应到所述光束的数量的增多而形成同步增大的静态数据；或者，

通过增大所述透镜的有效工作距离，触发所述透镜至所述传感器的光源的距离同步增大，并触发通过所述透镜到达所述传感器的光束数量同步减少，使得所述接近传感器因感应到所述光束的数量的减少而形成同步减小的静态数据。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述调整所述接近传感器的透镜位置改变所述接近传感器的透镜的有效工作距离，包括：

向线圈马达发出产生正向电流的正向指令，触发所述线圈马达形成与所述接近传感器的透镜中的磁性部件相互相吸的磁性作用力，使得所述透镜因所述磁性作用力向远离所述传感器的光源的方向运动，以增大所述接近传感器的透镜的有效工作距离；或者，

向线圈马达发出产生反向电流的反向指令，触发所述线圈马达形成与所述接近传感器的透镜中的磁性部件相互排斥的磁性作用力，使得所述透镜因所述磁性作用力向接近所述传感器的光源的方向运动，以缩小所述接近传感器的透镜的有效工作距离。

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述调整所述接近传感器的透镜位置改变所述接近传感器的透镜的有效工作距离包括：

向线圈马达发出正向运转的正向指令，通过所述线圈马达带动与所述接近传感器的透镜相连接的曲轴正向运转，使得所述透镜向远离所述传感器的光源的方向运动，以增大所述接近传感器的透镜的有效工作距离；或者，

向线圈马达发出反向运转的反向指令，通过线圈马达带动与所述接近传感器的透镜相连接的曲轴反向运转，使得所述透镜向接近所述传感器的光源的方向运动，以缩小所述接近传感器的透镜的有效工作距离。

6.一种接近传感器校准装置，其特征在于，所述装置包括：

数值采集器，用于采集接近传感器的静态数据；

数值计算器，用于计算所述静态数据的平均值，获得所述接近传感器的平均静态数据；

数值比较器，用于将所述平均静态数据与预设范围作比较；

驱动器，用于改变到达所述接近传感器的光束的数量，以触发所述接近传感器因感应所述光束的数量而形成的静态数据发生改变。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，

所述驱动器，还用于通过调整所述接近传感器的透镜位置而改变所述接近传感器的透镜的有效工作距离，触发通过所述透镜到达所述传感器的光束数量跟随所述有效工作距离而改变，使得所述接近传感器因感应所述光束的数量而形成的静态数据发生改变。