[发明专利]一种边界扫描器件、装置及控制方法和扫描方法有效
申请号: | 201710237207.4 | 申请日: | 2017-04-12 |
公开(公告)号: | CN108693466B | 公开(公告)日: | 2020-09-11 |
发明(设计)人: | 谷陈鹏;鲁斌 | 申请(专利权)人: | 上海鹏武电子科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/3185 | 分类号: | G01R31/3185 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人: | 黄志华 |
地址: | 201202 上海市浦东新*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 边界 扫描 器件 装置 控制 方法 | ||
本发明公开一种边界扫描器件、装置及控制方法和扫描方法,该方法包括:将边界扫描器件的指令寄存器虚拟出至少一个边界扫描单元,所述边界扫描单元包括虚拟数据寄存器和虚拟指令寄存器;将输入的测试指令存储至所述虚拟指令寄存器,所述测试指令指示边界扫描链的数据寄存器长度,其中,所述边界扫描链的数据寄存器长度是根据待测元器件确定的;根据所述边界扫描链的数据寄存器长度,确定所述边界扫描器件中属于所述边界扫描链的数据寄存器的标识,并将所述边界扫描链的数据寄存器的标识存储在所述虚拟数据寄存器中,该方法用以提高JTAG测试和在线编程的效率。
技术领域
本发明涉及通信领域,尤其涉及一种边界扫描器件、装置及控制方法和扫描方法。
背景技术
目前对集成电路进行测试的边界扫描系统一般由以下三个部分组成:计算机、边界扫描器件和被测电路板,参考图1。在被测电路板上,JTAG(Joint Test Action Group,联合测试工作组)接口的测试数据输出(TDO,Test Data Output)线和测试数据输入(TDI,Test Data Input)线相互串连,测试模式输入线(TMS,Test Mode Select input)、测试时钟输入线(TCK,Test Clock input)和测试逻辑复位线(/TRST,Test Logic Reset)并连,JTAG接口是边界扫描测试控制器和被测电路板的连接接口,参考图2,U1、U2、.....,Ui表示边界扫描菊花链上的边界扫描器件,即边界扫描集成电路。
对于现有技术而言,用户单纯使用芯片厂商提供的BSDL文件,由于JTAG协议基于串行数据输入输出的模式,这就要求芯片的某一个或者多个管脚,每发送或者接收1bit数据的时候,需要完整的跑一遍JTAG扫描链;如果扫描链中共有500个寄存器,那么,需要500个时钟才能完成发送或者接收1bit的数据,这样,测试和在线编程的效率就会非常低。
发明内容
本发明实施例提供一种边界扫描器件、装置及控制方法和扫描方法,用以提高JTAG测试和在线编程的效率。
本发明方法包括一种边界扫描器件的控制方法,该方法包括:将边界扫描器件的指令寄存器虚拟出至少一个边界扫描单元,所述边界扫描单元包括虚拟数据寄存器和虚拟指令寄存器;
将输入的测试指令存储至所述虚拟指令寄存器,所述测试指令指示边界扫描链的数据寄存器长度,其中,所述边界扫描链的数据寄存器长度是根据待测元器件确定的;
根据所述边界扫描链的数据寄存器长度,确定所述边界扫描器件中属于所述边界扫描链的数据寄存器的标识,并将所述边界扫描链的数据寄存器的标识存储在所述虚拟数据寄存器中。
从另一方面,本发明实施例进一步地提供一种边界扫描方法,该方法包括:
根据接收的边界扫描JTAG信号,访问边界扫描器件的边界扫描单元;所述边界扫描单元包括虚拟数据寄存器和虚拟指令寄存器;所述虚拟指令寄存器存储测试指令,所述测试指令指示边界扫描链中的数据寄存器长度;所述边界扫描链中的数据寄存器长度是根据待测元器件确定的;所述虚拟数据寄存器存储所述边界扫描链的数据寄存器的标识;
生成边界扫描链,所述边界扫描链包含的数据寄存器是根据所述边界扫描单元的虚拟数据寄存器中存储的所述数据寄存器的标识确定的;
利用所述边界扫描链执行所述虚拟指令寄存器中存储的测试指令,对所述待测元器件进行边界扫描。
基于同样的发明构思,本发明实施例提供一种边界扫描器件的控制装置,该装置包括:
虚拟单元,用于将边界扫描器件的指令寄存器虚拟出至少一个边界扫描单元,所述边界扫描单元包括虚拟数据寄存器和虚拟指令寄存器;
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