[发明专利]老炼夹具及采用该夹具做接触状况和老炼结果测试的方法

权利要求书

1.老炼夹具，包括能够相互配合装配的上夹具和下夹具，所述上夹具和所述下夹具通过触点夹持电容器，所述下夹具包括夹具下板，其特征在于：所述夹具下板上至少设有一个老炼板，所述老炼板上排布有老炼工位，所述老炼工位包括元件槽，所述触点包括设置在所述元件槽底部的下触点，所述上夹具包括与所述老炼板相匹配的夹具上板，所述触点还包括对应所述下触点设置在所述夹具上板上的上触点，所述上触点与所述下触点配合夹持电容器，所述下夹具还包括安装在所述夹具下板下端的下PCB板，所述下PCB板上对应每个所述老炼工位设有检测电路，所述检测电路分别包括保护电阻和分别设置在所述保护电阻两端的第一测试点和第二测试点，所述第二测试点分别并联连接，所述电容器分别通过触点与所述第一测试点和所述第二测试点以及所述保护电阻构成回路。

2.根据权利要求1所述的老炼夹具，其特征在于：所述元件槽内设有一个所述下触点，所述上夹具还包括安装在所述夹具上板上端的上PCB板，所述上PCB板上对应每个所述老炼工位设有检测焊点，所述检测焊点分别与对应的所述上触点相连接，所述检测焊点分别并联连接且连接至上板连接点，所述第一测试点和所述第二测试点分别设置在所述电容器两端，所述下触点分别对应与所述第一测试点相连接，所述第二测试点并联连接成下板连接点，当所述上夹具与所述下夹具装配配合时，所述上板连接点与所述下板连接点相接合，使得所述第二测试点与所述检测焊点连通，所述电容器和所述上触点、检测焊点、上板连接点、下板连接点、第二测试点、保护电阻、第一测试点、下触点构成回路。

3.根据权利要求1所述的老炼夹具，其特征在于：所述元件槽内设有两个所述下触点，所述下夹具还包括安装在所述夹具下板下端的下PCB板，所述下PCB板上对应每个所述老炼工位设有所述检测电路，所述第一测试点和所述第二测试点分别设置在所述电容器两端，两个所述下触点分别对应与所述第一测试点以及第二测试点相连接，所述第二测试点并联连接形成下板连接点，所述电容器和两个所述下触点、第一测试点、保护电阻、第二测试点、下板连接点构成回路。

4.根据权利要求1所述的老炼夹具，其特征在于：所述夹具上板的两端分别设有锁孔，所述夹具下板的两端对应设有锁孔，快速夹装锁扣分别穿过所述锁扣将所述上夹具锁紧在所述下夹具上，所述快速夹装锁扣包括锁紧杆，所述锁紧杆的上端设有旋转拨片，所述锁紧杆上套装有弹簧，所述锁紧杆下端设有两个旋转卡柱，两个所述旋转卡柱以穿过所述锁紧杆的轴心的直线为对称轴呈对称设置，所述锁孔包括可供所述锁紧杆通过的主孔和设置在所述主孔两侧的与所述主孔连通且可供所述旋转卡柱通过的副孔，在所述下PCB板的背面，对应所述锁孔的后侧设有锁紧槽，当所述旋转卡柱穿过所述副孔后，旋转所述旋转拨片使得所述旋转卡柱避开所述副孔，所述弹簧的两端分别与所述旋转拨片以及所述夹具下板的上表面相抵使得所述旋转卡柱卡装在所述锁紧槽内，所述锁紧槽上还设有旋转限位部。

5.根据权利要求2所述的老炼夹具，其特征在于：所述上PCB板的上侧设置有触点保护盖，所述下PCB板的下侧设置有触点保护盖，所述触点保护盖上设有导热孔。

6.根据权利要求1所述的老炼夹具，其特征在于：所述上触点为弹性触点，所述下触点为硬性触点，所述上触点为弹片或弹性探针，所述下触点为硬性探针。

7.根据权利要求1所述的老炼夹具，其特征在于：所述夹具上板由至少两个上板拼接而成，所述老炼板由至少两个下板拼接而成。

8.一种采用权利要求1所述的老炼夹具做接触状况测试的方法，其特征在于：分别以同一老炼工位的第一测试点和第二测试点为接入点连接恒流交流电源并测量电容器的压降，当压降很小时，表明置于该老炼工位的电容器接触良好，当压降很大时，表明置于该老炼工位的电容器接触不良。

9.根据权利要求8所述的一种采用老炼夹具做接触状况测试的方法，其特征在于：在老炼操作前，以同一老炼工位的第一测试点和第二测试点为接入点连接恒流交流电源并测量电容器的压降来检测电容器与夹具的接触状况；在老炼操作后，以同一老炼工位的第一测试点和第二测试点为接入点连接恒流交流电源并测量电容器的压降来检测电容器与夹具的接触状况。

10.一种采用权利要求1所述的老炼夹具做老炼结果测试的方法，其特征在于：在老炼操作后，以同一老炼工位的第一测试点和第二测试点为接入点连接直流电阻表测量电阻读数来检测电容器的老炼结果，当直流电阻表电阻读数显示为高阻状态时，表面经过高温老炼后电容器为合格品；当直流电阻表电阻读数显示为低阻时，表面经过高温老炼后电容器为不合格品。