[发明专利]一种低功耗低成本交流信号检测电路

说明书

本发明公开一种结构简单可集成在SOC芯片内的低功耗低成本交流信号检测电路，其包括交流耦合电容、电流比较器、电压迟滞比较器。其中，所述电流比较器包含第一、第二、第三、第四、第五、第六MOS管，具有交流输入端、第一直流偏置输入端、第二直流偏置输入端以及电流比较输出端；所述电压迟滞比较器具有正输入端、负输入端以及电压比较输出端。本发明可集成在SOC芯片内，实现低功耗、低成本的交流信号检测功能。

技术领域

本发明专利涉及电子领域，尤其是涉及一种可集成在SOC芯片内的低功耗低成本交流信号检测电路。

背景技术

电子自动化越来越普及，已经渗入到各行各业，为社会经济发展带来的强劲的推动力。然而，在各种干扰条件下确保电子自动化设备高可靠性运作，是每个设备制造商必须攻克的难题，电子自动化设备的核心是其内部主控SOC芯片，SOC芯片对外界干扰的免疫能力是设备可靠性的关键，对于SOC芯片，干扰主要来自外界EMI/RFI高频信号对芯片引脚的耦合干扰以及电源线上高频干扰，对此通常采用外部滤波以及屏蔽的方法来抑制干扰，这将增加设备的体积和成本。如果SOC芯片能自行判断出干扰的发生，就可以有效避免由于外界干扰导致设备做出的错误行为。

发明内容

本发明的目的是提供一种可集成在SOC芯片内的低功耗低成本交流信号检测电路，以实时检测外界对SOC芯片敏感部件的干扰，并提供检测结果标志信号给系统，使系统做出适当的防护机制，从而提高SOC芯片的整体可靠性。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案是：提供一种可集成在SOC芯片内的低功耗低成本交流信号检测电路，其包括交流耦合电容、电流比较器、电压迟滞比较器。

其中，所述电流比较器包含第一、第二、第三、第四、第五、第六MOS管，具有交流输入端、第一直流偏置输入端、第二直流偏置输入端以及电流比较输出端；所述电压迟滞比较器具有正输入端、负输入端以及电压比较输出端。

所述交流耦合电容的一端接被测交流信号，另一端接所述电流比较器的交流输入端。

所述第一、第二MOS管的源极、第六MOS管的源极和漏极接地，第一MOS管的栅极和第五MOS管的源极接交流输入端，第二、第六MOS管的栅极和第五MOS管的漏极接第一直流偏置输入端，第五MOS管的栅极接第二直流偏置输入端，第三、第四MOS管的源极接电源，第三、第四MOS管的栅极和第三MOS管的漏极接第一MOS管的漏极，第二、第四MOS管的漏极接电流比较输出端。

所述电压迟滞比较器的正输入端接所述电流比较器的电流比较输出端，负输入端接所述电流比较器的第二直流偏置输入端。

所述电压迟滞比较器的正输入端接所述电流比较器的电流比较输出端，负输入端接所述电流比较器的第二直流偏置输入端。

依照本发明实施例提供的交流检测电路，所述第一MOS管的尺寸小于第二MOS管的尺寸。所述第一、第二、第五、第六MOS管为NMOS晶体管，第三、第四MOS管为PMOS晶体管，所述电压比较输出端输出高电平表示检测到交流信号，反之表示没有检测到交流信号。

本发明专利的有益效果是，通过在SOC芯片中集成本发明专利提供的低功耗低成本的交流检测电路，在不增加外围电路复杂度与系统体积的前提下，极大地提高了SOC芯片整体的可靠性与智能性。

附图说明

附图1是本发明专利的一种实施例结构示意图；

附图2是本发明专利的第一MOS管栅源电压与漏源电流关系示意图；

附图3是本发明专利的交流信号检测电路波形图。

具体实施方式

下面通过实施例，并结合附图，对本发明专利的技术方案作进一步具体的说明。

实施例：