[发明专利]一种大幅面瓷砖检测数据采集分析系统在审
| 申请号: | 201710206459.0 | 申请日: | 2017-03-31 |
| 公开(公告)号: | CN106949932A | 公开(公告)日: | 2017-07-14 |
| 发明(设计)人: | 张涛川;段春梅;杨伟;李大成;徐华冠;彭国亮 | 申请(专利权)人: | 佛山职业技术学院 |
| 主分类号: | G01D21/02 | 分类号: | G01D21/02;B08B5/02 |
| 代理公司: | 佛山东平知识产权事务所(普通合伙)44307 | 代理人: | 詹仲国,龙孟华 |
| 地址: | 528100 广东省佛山市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 大幅面 瓷砖 检测 数据 采集 分析 系统 | ||
1.一种大幅面瓷砖检测数据采集分析系统,其特征在于,包括:上位机、数据采集卡、激光位移传感器和风扇,所述数据采集卡采集激光位移传感器反馈的信号并送到上位机中;所述激光位移传感器的数量为2+N个,2个激光位移传感器用来测量瓷砖侧面的平面度和直线度,另外N个激光位移传感器用来采集瓷砖正面的平面度、直线度、表面缺陷信息,N≥2;所述风扇与激光位移传感器一一对应,用来吹走相应激光位移传感器测量位置的杂物。
2.根据权利要求1所述的一种大幅面瓷砖检测数据采集分析系统,其特征在于,所述激光位移传感器与待检测大幅面瓷砖之间能进行相对运动,激光位移传感器的激光发射口和反射激光接收口之间的连线与相对运动的运动方向垂直。
3.根据权利要求1所述的一种大幅面瓷砖检测数据采集分析系统,其特征在于,所述上位机为研华I5工控机。
4.根据权利要求1所述的一种大幅面瓷砖检测数据采集分析系统,其特征在于,所述激光位移传感器为松下HC-G030激光位移传感器。
5.根据权利要求1所述的一种大幅面瓷砖检测数据采集分析系统,其特征在于,所述数据采集卡为PCI-1710、PCI-1710L、PCI-1710HG、PCI-1710HGL、PCI-1711、PCI-1711L、PCI-1716或PCI-1716L多功能卡。
6.根据权利要求1所述的一种大幅面瓷砖检测数据采集分析系统,其特征在于,所述激光位移传感器和风扇活动安装在一支架上、并由电机驱动,一PLC控制器与电机连接控制激光位移传感器、风扇相对于待测大幅面瓷砖的垂直度及高度;所述上位机与PLC控制器连接。
7.根据权利要求1所述的一种大幅面瓷砖检测数据采集分析系统,其特征在于,在上位机中内嵌有数据处理程序,采集到的原始数据经滤波预处理、基准化运算、静态误差消除、动态误差消除、缺陷分析、平整度分析、质量分析后输出结果。
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