[发明专利]相控阵发送装置及载波泄漏校正方法在审
申请号: | 201710191920.X | 申请日: | 2017-03-27 |
公开(公告)号: | CN107241148A | 公开(公告)日: | 2017-10-10 |
发明(设计)人: | 宫长健二;冈崎幸夫 | 申请(专利权)人: | 松下知识产权经营株式会社 |
主分类号: | H04B17/12 | 分类号: | H04B17/12;H04B17/10 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所11105 | 代理人: | 邸万奎 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 相控阵 发送 装置 载波 泄漏 校正 方法 | ||
技术领域
本发明涉及使用了相控阵天线的无线信号发送中的、相控阵发送装置及载波泄漏校正方法。
背景技术
相控阵天线技术是无线通信装置或雷达装置中被广泛使用的技术。根据这种技术,可进行指向性波束的成形和波束的电子扫描。例如,若适用于无线通信装置,则能够形成波束而提高天线增益,扩展通信区域,或者,能够按照容纳用户数动态地控制覆盖区域。此外,若适用于雷达装置,则能够通过向探测目标物体辐射由相控阵天线形成的指向性高的波束,抑制来自非探测目标物体的反射(杂乱回波反射),使目标物体的探测精度提高。
相控阵天线技术,通过适当地控制对配置为阵列状的多个天线元件各自馈电的多个并行发送系统(以下称为“发送分支”)的相位和振幅,能够得到作为天线的期望的指向性增益。
作为采用了相控阵技术的以往的相控阵发送装置的一例,例如已知专利文献1所公开的结构。图1是表示专利文献1所公开的相控阵发送装置的结构的框图。图1所示的相控阵发送装置(发送机64)包括:本机信号放大器65;多个基带信号用相移器66-1~66-h;多个正交调制器(混频器)67-1~67-h;多个发送放大器68-1~68-h;以及多个发送天线69-1~69-h。多个基带信号用相移器66-1~66-h对于输入的基带信号,通过分别给予合适的相位旋转来控制波束指向性。
此外,作为使所发送的无线信号的质量劣化的要因,有载波信号的泄漏(载波泄漏)。由于载波泄漏是接收处理中的不需要分量,所以接收信号的检测精度劣化。
作为进行以往的载波泄漏校正的装置的一例,已知专利文献2所公开的结构。专利文献2所公开的装置将具有恒定的包络线的测试信号输入到混频器,对于来自混频器的输出信号进行包络线检波得到包络线信号。在发生载波泄漏(=DC偏置)的状态下包络线信号的振幅变动,在无载波泄漏的状态下无包络线信号的振幅变动。因此,进行载波泄漏的校正,使得包络线信号的振幅变动较小。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本专利第5252094号公报
专利文献2:日本特开平8-213846号公报
发明内容
本发明的非限定性的实施例,提供能够进行考虑了按照波束指向性的切换而变动的载波泄漏的载波泄漏校正的相控阵发送装置及载波泄漏校正方法。
本发明的一方式的相控阵发送装置,包括多个发送分支和校正控制单元,所述多个发送分支各自包括:对基带信号给予相位旋转的相移单元;对所述相移单元的输出信号加上第1校正值的第1DC偏置校正单元;和将所述第1DC偏置校正单元的输出信号变频到高频频带的混频器,所述校正控制单元,对于所述相位旋转中被设定的相位旋转量的多个候选的各个候选,计算使所述混频器的输出信号中包含的载波泄漏分量最小的第2校正值,基于所述第2校正值确定所述第1校正值。
本发明的一方式的相控阵发送装置包括多个发送分支和校正控制单元,所述多个发送分支各自包括:对基带信号加上第1校正值的第1DC偏置校正单元;对所述第1DC偏置校正单元的输出信号给予相位旋转的相移单元;对所述相移单元的输出信号加上第2校正值的第2DC偏置校正单元;将所述第2DC偏置校正单元的输出信号变频到高频频带的混频器;和使用所述相位旋转前的基带信号,检测在所述相移单元的前级发生的第1DC偏置的检测单元,所述校正控制单元基于所述第1DC偏置确定所述第1校正值。
本发明的一方式的载波泄漏校正方法,包括以下步骤:对基带信号给予相位旋转的相移步骤;对所述相移步骤的输出信号加上第1校正值的DC偏置校正步骤;将所述DC偏置校正步骤的输出信号变频到高频频带的转换步骤;以及对于所述相位旋转中被设定的相位旋转量的多个候选的各个候选,计算使所述转换步骤的输出信号中包含的载波泄漏分量最小的第2校正值,基于所述第2校正值确定所述第1校正值的校正控制步骤。
本发明的一方式的载波泄漏校正方法,包括以下步骤:对基带信号加上第1校正值的第1DC偏置校正步骤;对所述第1DC偏置校正步骤的输出信号给予相位旋转的相移步骤;对所述相移步骤的输出信号加上第2校正值的第2DC偏置校正步骤;将所述第2DC偏置校正步骤的输出信号变频到高频频带的转换步骤;使用所述相位旋转前的基带信号,检测所述相移步骤的前级发生的第1DC偏置的检测步骤;以及基于所述第1DC偏置确定所述第1校正值的校正控制步骤。
再者,这些概括性的并且具体的方式,可以由系统、装置、方法、集成电路、计算机程序、或记录介质来实现,也可以由系统、装置、方法、集成电路、计算机程序和记录介质的任意的组合来实现。
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