[发明专利]极化码编译的方法及装置有效

专利信息
申请号: 201710185923.2 申请日: 2017-03-24
公开(公告)号: CN108631936B 公开(公告)日: 2020-09-25
发明(设计)人: 徐旻子;樊婷婷;徐志昆 申请(专利权)人: 展讯通信(上海)有限公司
主分类号: H04L1/00 分类号: H04L1/00;H03M13/13;H03M13/09
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 潘彦君;吴敏
地址: 201203 上海市浦东新区浦东*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 极化 编译 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种极化码编译的方法,其特征在于,包括:

分别确定信息比特位置、校验比特位置及冻结比特位置;

生成每个校验比特的校验方程;其中:每个校验比特的校验方程包含前一个校验比特的校验关系;

按照所述校验方程产生校验比特;

将所述校验比特配置于所述校验比特位置,并获取信源序列,将所述信源序列中的信息比特配置于所述信息比特位置,且配置所述冻结比特位置,生成极化码输入比特序列;

对所述极化码输入比特序列进行极化码编码,得到极化码码字;

将所述极化码码字映射成调制信号,并通过信道进行传输;

解调经过传输的调制信号,得到所述经过传输的所述极化码码字的比特的软信息;

采用连续抵消列表译码算法处理所述极化码码字的比特的软信息,得到译码结果;

所述生成每个校验比特的校验方程,包括:

将所述校验比特位置上的校验比特所构成的序列分为s段;其中:s为非零自然数;

对任意一段的每一个校验比特位置所对应的校验比特的校验方程,加入前一校验比特位置所对应的校验比特;

在所述加入前一校验比特位置所对应的校验比特之后,还包括:

统计第i个校验比特位置之前的信息比特位置,得到信息比特所构成的序列Iindex,且所述序列Iindex的长度为Isize;其中:0i(q+1);

配置位置序号初值a为i,判断位置序号a与所述长度Isize的大小关系;

根据所述位置序号a与所述长度Isize的大小关系,相应地将所述位置序号a上的信息比特加入至校验方程。

2.如权利要求1所述的极化码编译的方法,其特征在于,所述分别确定信息比特位置、校验比特位置及冻结比特位置,包括:

获取所需的信息比特的长度K、所需的极化码码长M及对应的极化码母码的长度N;

将N个比特信道按照可靠度从低到高排序,得到序列Q;

确定打孔位置T;

根据所述打孔位置T,将所述序列Q拆分为第一子序列、第二子序列及第三子序列;其中:所述第一子序列的长度为:(N-M),所述第二子序列的长度为:(M-K),所述第三子序列的长度为:K;

确定所述第三子序列所对应的生成矩阵的行重的最小值dmin,且在所述第三子序列中所对应的生成矩阵具有最小行重dmin的位置有n个;

确定所述校验比特位置的个数Fp;

判断具有所述最小行重dmin的位置个数n与个数Fp的大小,当nFp时,将所述第三子序列中所对应的生成矩阵的行重为dmin且可靠度最好的Fp个位置确定作为所述校验比特位置;当n≤Fp时,将所述第三子序列中的(Fp+n)/2个行重为dmin的位置和所述第三子序列中的(Fp-n)/2个行重为2dmin的位置确定作为所述校验比特位置;

在所述序列Q上,按照可靠度从高到低的顺序,且略过所述打孔位置T和已经确定为所述校验比特位置的位置,标记K个信息比特位置;

将所述序列Q中的剩余位置均标记为所述冻结比特位置,且从所述冻结比特位置中选择和所述校验比特位置具有相同行重的位置,标记成所述校验比特位置,所有的所述校验比特位置所构成的序列长度为q。

3.如权利要求1所述的极化码编译的方法,其特征在于,在所述加入前一校验比特位置所对应的校验比特之后,还包括:

设置信息比特位置间隔为间隔p;其中,所述间隔p为质数;

对任意一个校验比特,选取在所述校验比特所在的校验比特位置之前且与所述校验比特的校验间隔为所述间隔p的倍数的信息比特位置;

将所述信息比特位置所对应的信息比特加入至所述校验比特的校验方程。

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