[发明专利]磁场检测器的偏移补偿有效
| 申请号: | 201710178371.2 | 申请日: | 2017-03-23 |
| 公开(公告)号: | CN107229023B | 公开(公告)日: | 2020-07-21 |
| 发明(设计)人: | J·施密特;J·库比克 | 申请(专利权)人: | 亚德诺半导体集团 |
| 主分类号: | G01R33/09 | 分类号: | G01R33/09;G01R33/00 |
| 代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 刘倜 |
| 地址: | 百慕大群岛(*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 磁场 检测器 偏移 补偿 | ||
1.一种包括磁场传感器的装置,所述装置包括:
第一磁场检测器,具有多个磁阻元件,所述多个磁阻元件被布置为相对于参考轴形成至少两个角度,所述至少两个角度具有两个不同的量值,所述第一磁场检测器具有第一半桥输出信号;
与所述磁阻元件相邻的一个或多个偏置导体;
偏置电路,其被配置为在感测周期的第一阶段使第一量的电流通过所述一个或多个偏置导体,并且在所述感测周期的第二阶段使第二量的电流通过所述一个或多个偏置导体,其中所述第一量在量值或方向中的至少一个上不同于所述第二量;和
差分电路,被配置为形成在第一阶段期间遇到的第一半桥输出信号的电平与在第二阶段期间遇到的第一半桥输出信号的电平之间的差。
2.根据权利要求1所述的装置,还包括:
第一采样和保持电路,被配置为在所述第一阶段期间对所述第一半桥输出信号进行采样和保持作为第一阶段信号电平;和
第二采样和保持电路,被配置为在所述第二阶段期间采样和保持所述第一半桥输出信号作为第二阶段信号电平,
其中,所述差分电路被配置为形成所述第一阶段信号电平和所述第二阶段信号电平之间的差。
3.根据权利要求2所述的装置,还包括设置在所述第一磁场检测器与所述第一采样和保持电路之间的信号路径中的缓冲器,其中所述缓冲器被配置为缓冲用于所述第一采样和保持电路和第二采样和保持电路的第一半桥输出信号。
4.根据权利要求1所述的装置,其中,所述差分电路包括差分放大器。
5.根据权利要求1所述的装置,其中,所述差分电路包括模数转换器,其中所述差在数字电路中计算。
6.根据权利要求1所述的装置,其中,所述装置还包括:
具有第二半桥输出信号的第二磁场检测器;
第三采样和保持电路,被配置为在所述第一阶段期间对所述第二半桥输出信号进行采样和保持,作为第一阶段第二信号电平;
第四采样和保持电路,其被配置为在所述第二阶段期间采样并保持所述第二半桥输出信号,作为第二阶段第二信号电平;和
第二差分电路,被配置为形成所述第一阶段第二信号电平和所述第二阶段第二信号电平之间的差。
7.根据权利要求1所述的装置,其中,所述一个或多个偏置导体包括在所述磁阻元件的第一侧上的分离层上的两个导体和在所述磁阻元件的第二侧上的分离层上的两个导体,其中所述第二侧与第一侧相对。
8.根据权利要求1所述的装置,其中,所述第一磁场检测器具有多个组的一个或多个磁阻元件,其中所述多个组以桥式配置布置以产生所述第一半桥输出信号和第二半桥输出信号,所述多个组包括至少第一组、第二组、第三组和第四组;
其中,所述第一组的所述一个或多个磁阻元件被配置为在第一电流方向上运载电流,所述第一电流方向基本上平行于相对于参考轴成第一角度的第一轴;
其中,所述第二组的所述一个或多个磁阻元件被配置为在第二电流方向上运载电流,所述第二电流方向基本上平行于相对于所述参考轴成第二角度的第二轴,其中所述第二角度不同于所述第一角度;
其中,所述第三组的所述一个或多个磁阻元件被配置为在第三电流方向上运载电流,所述第三电流方向基本上平行于相对于所述参考轴成第三角度的第三轴,其中所述第三角度 不同于所述第一角度和第二角度;以及
其中,所述第四组的所述一个或多个磁阻元件被配置为在第四电流方向上运载电流,所述第四电流方向基本上平行于相对于所述参考轴成第四角度的第四轴,其中所述第四角度不同于所述第一角度、第二角度和第三角度。
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