[发明专利]磁共振扫描参数确定方法及装置、计算机程序有效
申请号: | 201710177807.6 | 申请日: | 2017-03-23 |
公开(公告)号: | CN108627784B | 公开(公告)日: | 2022-05-03 |
发明(设计)人: | 郭佳;么佳斌;赖永传;曹楠 | 申请(专利权)人: | 通用电气公司 |
主分类号: | G01R33/56 | 分类号: | G01R33/56;G01R33/561 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 金红莲 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 磁共振 扫描 参数 确定 方法 装置 计算机 程序 | ||
本发明提供了一种磁共振扫描参数确定方法及装置、计算机程序。该方法包括:获取预先确定的在本次扫描中采用的视野范围和相位编码方向;确定在定位预扫描过程中获取的表面线圈图像在相位编码方向上的图像信号的最大坐标范围;在去相位卷绕功能模式开启的情况下,根据该最大坐标范围和视野范围确定过采样率。
技术领域
本发明涉及医疗成像领域,尤其涉及一种磁共振扫描参数确定方法及装置、以及用于执行该方法的计算机程序。
背景技术
对用户来说,在磁共振成像扫描过程中,信噪比(Signal Noise Ratio,SNR)和扫描时间是两个重要的指标,一般来说,用户希望利用较短的扫描时间获得具有较高信噪比的图像。扫描时间和信噪比是由很多参数决定的,例如分辨率、带宽、激励次数(NEX)、去相位卷绕(NPW)的过采样率、并行成像的加速因子等等,这些参数之间具有较为复杂的关系。对用户来说,他们不一定关心或者了解这些关系,而仅仅需要达到他们想要的信噪比。
但是现有的磁共振成像系统中,用户需要根据经验设置诸如过采样率、扫描加速因子、激励次数等参数来达到想要的信噪比和扫描时间,这种方式不仅需要医师投入较大的精力,并且仅适用于非常有经验的医师,对于经验尚浅的医师来说,是一项挑战。并且,这种方式容易造成参数设置不当造成的图像质量差或扫描时间长的问题。
发明内容
本发明的一个目的在于提供一种新的磁共振扫描参数的确定方法,可以自动确定优化的扫描参数,提高用户工作效率,避免由于参数设置不当造成的图像质量差或扫描时间长的问题。
本发明的示例性实施例提供了一种磁共振扫描参数确定方法,包括:获取预先确定的在本次扫描中采用的视野范围和相位编码方向;确定在定位预扫描过程中获取的表面线圈图像在相位编码方向上的图像信号的最大坐标范围;在去相位卷绕功能模式开启的情况下,根据该最大坐标范围和视野范围确定过采样率。
本发明的示例性实施例还提供了一种计算机程序,当该计算机程序运行于一磁共振扫描设备中时,使磁共振扫描设备执行上述磁共振扫描参数确定方法。
本发明的示例性实施例还提供了一种磁共振扫描参数确定装置,包括获取模块、第一确定模块和第二确定模块。获取模块用于获取预先确定的在本次扫描中采用的视野范围和相位编码方向,第一确定模块用于确定在定位预扫描过程中获取的表面线圈图像在相位编码方向上的图像信号的最大坐标范围,第二确定模块用于在去相位卷绕功能模式开启的情况下,根据所述该最大坐标范围和视野范围确定过采样率。
通过下面的详细描述、附图以及权利要求,其他特征和方面会变得清楚。
附图说明
通过结合附图对于本发明的示例性实施例进行描述,可以更好地理解本发明,在附图中:
图1为本发明一个实施例提供的磁共振扫描参数确定方法的流程图;
图2示出了在冠状位图像中显示视野范围和相位编码方向的示意图,其中还示出了沿相位编码方向在表面线圈图像中确定信号采集线的示意图;
图3为本发明另一实施例提供的磁共振扫描参数确定方法的流程图,其中示出了自动开启“去相位卷绕”功能模式的步骤;
图4示出了在一条信号采集线上采集的图像信号的曲线图;
图5为本发明另一实施例提供的磁共振扫描参数确定方法的流程图;
图6为本发明一个实施例提供的磁共振扫描参数确定装置的框图。
具体实施方式
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