[发明专利]一种用于线性传感器的测试系统

说明书

本发明涉及一种用于线性传感器的测试系统，主要解决现有技术中存在的测试过程复杂，测试精度低的技术问题，本发明通过采用所述测试系统包括待测线性传感器，AMP运放，与AMP运放连接的ADC转换模块，与所述ADC转换模块连接的FPGA，与FPGA连接的A380图像处理器，以及与A380图像处理器连接的上位机，所述FPGA还与光源模块连接，较好的解决了该问题，可用于线性传感器的工业生产中。

技术领域

本发明涉及半导体领域中的图像传感器测试领域，特别涉及到一种用于线性传感器的测试系统。

背景技术

由于线性传感器是图像采集传感器，在出厂前每颗芯片要进行一道最终测试，必须把所有相关不良品筛选出来，并对不良品进行归类统计，通过不良类型可以定位哪些芯片是属于晶圆厂的问题，哪些属于封装厂的问题，甚至进一步定位到自己电路上设计是否有缺陷。

现有的使用方法是采用人工测试，存在测试精度低，使用方法复杂的技术问题。因此，提供一种测试方便，测试精度高的用于线性传感器的测试系统就很有必要。本系统通过硬件平台采集图像，送给PC机，通过PC机进行一系列相关的图像质量测试。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是现有技术中存在的测试繁琐、精度低的技术问题。提供一种新的用于线性传感器的测试系统，该测试系统具有测试方便、精度高的特点。

为解决上述技术问题，采用的技术方案如下：一种用于线性传感器的测试系统，其特征在于：所述测试系统包括待测线性传感器，AMP运放，与AMP运放连接的ADC转换模块，与所述ADC转换模块连接的FPGA，与FPGA连接的A380图像处理器，以及与A380图像处理器连接的上位机；所述FPGA还与光源模块连接；所述AMP运放用于放大待测线性传感器模拟输出信号；所述ADC转换模块用于转换AMP输出的放大信号至12Bit；所述FPGA用于预处理所述12Bit数据；所述A380图像处理器用于传输预处理后的8Bit数据；所述上位机用于测试图像质量；所述光源模块用于输出光源。

通过ADC芯片对放大后的单端模拟信号进行数字转换，转换成12Bit。A380芯片只支持DCMI接口(D0～D7),只能接受8Bit数据，所以需要FPGA对12Bit数据进行处理，将数据转换成A380芯片需要的8Bit数据，然后通过A380的USB 2.0接口送给PC机进行数据处理。由于A380一次只能接受8Bit数据，送给PC机也只能是8位一传，所以不能直接显示图像，也不能直接对数据进行处理，需将数据还原成12Bit，通过将低4Bit+加上后8Bit拼成12Bit,数据还原后，就可以进行测试。本发明通过采用自动化测试，克服人工测试的步骤繁琐及测试精度低的技术问题。

本发明还提供一种用于线性传感器的测试方法，所述使用方法包括：

(1)开启测试系统，设置光源模块，输出光照亮度；

(2)通过IC读取待测线性传感器ID，判断所述ID，不正确则标记为I2C不良，正确则进入步骤(3)；

(3)对待测线性传感器及FPGA进行参数初始化，所述FPGA预处理待测线性传感器数据，所述上位机根据FPGA预处理方法进行反向处理，得到还原数据；

(4)设置MeanDark阈值范围；根据所述还原数据进行MeanDark数据处理，计算得出MeanDark，MeanDark不属于MeanDark阈值范围内，则标记为MeanDark不良；MeanDark属于MeanDark阈值范围内，进入步骤(5)；

(5)根据步骤(4)中MeanDark进行MeanSub数据处理，设置MeanSub阈值范围，计算MeanSub，所述MeanSub不属于MeanSub阈值范围内，则标记为MeanSub不良；MeanSub属于MeanSub阈值范围内，进入步骤(6)；

(6)进行坏点不良测试，存在坏点则标记为坏点不良，不存在坏点标记为良品，完成测试。