[发明专利]一种获取射频功放load pull参数的方法

说明书

本发明提供了一种获取射频功放load pull参数的方法，采用产品成品测试，包括判断配置有相同的射频功放的N个产品成品中是否有至少一个产品成品属于确定优良产品；若是则用阻抗参数系统获取其中每个确定优良产品的射频功放的负载阻抗值，以及用电气参数系统测量每个确定优良产品的射频功放在有源条件下的电气参数，作为射频功放的load pull参数；否则选取其中一个产品成品作为待测产品成品，并通过改变改待测产品成品的匹配网络参数来找到一组符合使用要求的load pull参数。本发明使用产品成品测试，无需为每个DUT定制一个测试印制电路板，缩短了测试周期，节约了资源，避免了额外的环境污染。

技术领域

本发明涉及射频通信领域，尤其涉及一种获取射频功放load pull参数的方法。

背景技术

目前获取功放器件load pull参数主要通过专用的仪器套件(以下统称“专用测试系统”)来获取。

专用测试系统通过改变电路的偏压(Bias)及调整Tuner所对应的匹配阻抗值，观察待测器件(DUT)的输出功率、效率、信号质量等电气参数的变化，从而得到待测器件的load pull参数。

专用测试系统进行测试之前，需要首先对高频导线、转接头、输入输出阻抗调谐器(Input tuner\output tuner)等组件进行S参数(S－parameter)进行测量，再将相关数据输入到测量系统的软件中。此后接着完成整个系统的S参数校准、功率校准等一系列校准工作，才能够进行测试。

测试时，系统在选定的阻抗区域内进行扫描，改变输入输出阻抗调谐器的阻抗值，记录待测物理量(如Power consumption、EVM等)的对应变化，即得到了DUT的load pull参数。为了找到性能最佳的阻抗值，可能需要进行多次的扫描。

上述自动测试系统的不足点在于：

1、专用测试系统测试电气参数需要使用系统自身的信号源产生信号，而绝大多数产品成品不会预留给外界注入信号的测试接口，因此通常需要为每个射频功放定制一个测试印制电路板，除了占用一个印制电路板的设计周期外，还会造成一定的资源浪费及额外环境污染。

2、要将专用测试系统测试到的load pull数据应用到任何一个产品上，都必须要经过这样的步骤：(1)选取load pull数据点；(2)反复调整匹配网络参数，将射频功放的负载阻抗调到该数据点的阻抗值上；(3)确认电气参数是否满足要求，如果满足要求则结束，否则回去执行步骤(2)。因此专用测试系统测试到的load pull参数不能直接应用在测试中使用的产品成品上，load pull参数应用到产品时的调试时间较长。

发明内容

针对上述问题，本发明的目的在于提供一种获取射频功放load pull参数的方法，使用产品成品测试，无需为每个DUT定制一个测试印制电路板，缩短了测试周期，节约了资源，避免了额外的环境污染。

为了实现上述目的，本发明实施例提供了一种获取射频功放load pull参数的方法，包括：

S1，判断配置有相同的射频功放的N个产品成品中，是否有至少一个产品成品属于确定优良产品，若是则执行S2，否则执行S4；所述确定优良产品是指配置有已经调试到满足预设的电气参数性能要求的射频功放的产品成品；

S2，用阻抗参数系统获取其中每个确定优良产品的射频功放的负载阻抗值，以及用电气参数系统测量每个确定优良产品的射频功放在有源条件下的电气参数；

S3，整合测量得到的每个确定优良产品的负载阻抗值和电气参数，得到所述射频功放的load pull参数；

S4，从所述N个产品成品中选取一个产品成品作为待测产品成品，并为所述待测产品成品选取一组网络匹配参数；