[发明专利]电场测量仪校准装置有效

专利信息
申请号: 201710173279.7 申请日: 2017-03-22
公开(公告)号: CN108627786B 公开(公告)日: 2020-10-09
发明(设计)人: 龙兆芝;李文婷;肖凯;刘少波;张弛;王海燕;余也凤 申请(专利权)人: 中国电力科学研究院;国家电网公司;国网湖北省电力公司
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 北京工信联合知识产权代理有限公司 11266 代理人: 朱振德;张荣
地址: 430074 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 电场 测量仪 校准 装置
【权利要求书】:

1.一种电场测量仪校准装置,其特征在于,包括:

冲击电压发生装置,用于提供冲击电压;

不同电压波形下标准电场发生装置,用于将所述冲击电压转换为标准电场,所述不同电压波形下标准电场发生装置包括高压电极、接地电极、均压环和均压电阻;所述高压电极和接地电极分别用于连接冲击电压发生器的两极,所述高压电极和接地电极相隔一距离;所述高压电极和接地电极之间设置有多个所述均压环,相邻所述均压环之间设置有所述均压电阻;

分压器,与所述不同电压波形下标准电场发生装置并联;

电压测量单元,与所述分压器的低压端连接,用于测量所述冲击电压,所述冲击电压用于计算出所述标准电场的计算场强,所述计算场强用于与待测电场测量仪的测量值作比较,以判断待测电场测量仪是否符合要求;

其中,所述计算场强用于与待测电场测量仪的测量值作比较,以判断待测电场测量仪是否符合要求通过以下步骤实现:

(1)在电场测量仪的每个量程20%~100%范围内至少均匀地取五点,每一点对应一计算场强,Ei=Ui/dUi是电极上的电位差,d是电极的间距,标准高压测量系统的不确定度应不大于0 .5%;

(2)电场测量仪放置于有机玻璃拉伸盒内,送至两电极中轴线的中心位置,得到仪器上的一最大读数A;

(3)Ki=Ei/A,其中Ei是计算场强,取几个测量点Ki的平均值即为电场测量仪的刻度因数K

(4)用刻度因素K乘上仪器上的读数即得到测量值,判断在20%~100%量程范围内测得的场强值偏差,如果误差超过3%,则认为仪器不符合要求。

2.如权利要求1所述的电场测量仪校准装置,其特征在于,所述高压电极和接地电极分别为半径1.6~2.0m的圆形金属板,所述高压电极与接地电极之间的距离为0.8~1.2m,所述接地电极离地高度1~2m。

3.如权利要求2所述的电场测量仪校准装置,其特征在于,所述高压电极和接地电极为半径1.8m的圆形金属板,其间隙为1m,所述接地电极离地高度1.5m。

4.如权利要求1所述的电场测量仪校准装置,其特征在于,所述高压电极和接地电极之间设置有10~15个所述均压环。

5.如权利要求4所述的电场测量仪校准装置,其特征在于,所述高压电极和接地电极之间设置有12个所述均压环。

6.如权利要求1所述的电场测量仪校准装置,其特征在于,所述均压环的管径为40~60mm。

7.如权利要求6所述的电场测量仪校准装置,其特征在于,所述均压环的管径为50mm。

8.如权利要求1所述的电场测量仪校准装置,其特征在于,所述均压电阻为高压脉冲无感电阻。

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