[发明专利]一种基于无限远信号坐标测量系统的标校设备在审

专利信息
申请号: 201710157750.3 申请日: 2017-03-16
公开(公告)号: CN106767162A 公开(公告)日: 2017-05-31
发明(设计)人: 赵建军;杨利斌;王毅;孙瑾;王燕铭;王建国;张光轶 申请(专利权)人: 中国人民解放军海军航空工程学院
主分类号: F41G3/32 分类号: F41G3/32
代理公司: 北京轻创知识产权代理有限公司11212 代理人: 谈杰
地址: 264001 *** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 无限 信号 坐标 测量 系统 设备
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种模拟无限远近红外光源信号的光学坐标测量系统标校设备,特别是涉及一种适用于舰船坐标测量装置工作性能进行检测标校的设备。

背景技术

舰船坐标测量装置是测量飞行器飞行坐标的探测设备,采用红外热电图像传感器技术,将入射到传感器上的辐射能转换成热能,然后再把热能转换成电能。热成像系统是接收物体发出的热辐射,并将其转换成可见热图像的装置,热成像系统一般包括四个基本的组成部分:光学成像系统(包括扫描系统)、红外探测器及制冷器、电子信息处理系统和显示系统。光学系统的作用是将物体辐射的红外线会聚到焦面上,扫描器既要实现光学系统大视场与探测器小视场的匹配,又要按显示制式的要求进行扫描,探测器将红外辐射变成电信号,电子处理单元对电信号进行处理,显示器将电信号用可见的图像形式显示出来。坐标测量装置就是将飞行器尾焰和激光应答机的信号转换成坐标形成部件能识别的信号,最后获得飞行器飞行姿态量坐标参数,通过指令制导系统的实时回路调节进行引导。

坐标测量装置其精度是保障舰船制导系统性能满足航行要求的必要环节,随着时间推移,探测设备的性能和技术参数会发生漂移,系统精度会发生改变,将直接影响舰船的航行,因此,对坐标测量装置进行定期精度检查和标校变得十分迫切,特别在进行重大任务前、等级修理后,必须对系统进行性能检查和精度校准。光学坐标测量装置的标校设备是一种适用于舰船雷达系统检测标校设备,在装备技术保障中发挥了重要作用。

发明内容

本发明提供一种模拟无限远近红外光源信号的光学坐标测量系统标校设备,由无限远近红外光源信号模拟装置和专用信号检查台组成,利用专用信号检查台检查坐标测量系统输出参数的精度是否满足要求,并检查两个光学通道光轴平行性,目的对坐标测量系统的工作性能进行评价。

为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种基于无限远信号坐标测量系统的标校设备,包括模拟装置,所述模拟装置的外表面设置有接受天线,所述模拟装置的外表面靠近接受天线的一端设置有发射天线。

所述晶振分路器的输出端分别与第一陪频器的输入端和PDRO的输入端电连接,所述第一倍频器的输出端与DDS的输入端电连接,所述DDS的输出端和PDRO的输出端均与第一用电器的输入端电连接,所述第一用电器的输出端与第一滤波器的输出端电连接,所述第一滤波器的输出端与第一放大器的输入端电连接,所述第一放大器的输出端和控制脉冲的输出端均与控制器的输入端电连接,所述控制器的输出端与第二倍频器的输入端电连接,所述第二倍频器的输出端与第二放大器的输入端电连接,所述第二放大器的输出端与发射天线的输入端电连接。

所述接收天线的输出端与低频放大器的输入端电连接,所述低频放大器的输出端与第二滤波器的输入端电连接,所述第二滤波器的输出端和DRO的输出端分别均第二用电器的输入端电连接,所述第二用电器的输出端与第三滤波器的输入端电连接,所述第三滤波器的输出端与第三放大器的输入端电连接,所述第三放大器的输出端与功分器的输入端电连接,所述功分器的输出端均与第四滤波器、第五滤波器、第六滤波器和第七滤波器的输入端电连接,所述第四滤波器、第五滤波器、第六滤波器和第七滤波器的输出端分别与第一对数检波模块、第二对数检波模块、第三对数检波模块和第四对数检波模块的输出端电连接,所述第一对数检波模块、第二对数检波模块、第三对数检波模块和第四对数检波模块的输出端分别与第一比较器、第二比较器、第三比较器和第四比较器的输入端电连接,所述第一对数检波模块、第二对数检波模块、第三对数检波模块和第四对数检波模块的输出端均与模拟开关的输入端电连接,所述模拟开关的输入端与时间参数测量模块的输入端电连接。

优选的,所述模拟装置的外表面固定连接有等距离排列的支撑杆,所述支撑杆的外表面设置有护板。

优选的,所述模拟装置的底部固定连接有卡座。

优选的,所述晶振分路器为100MHz晶振分路器。

优选的,所述模拟装置为无限远近红外光源信号模拟装置模拟无穷远辐射源。

优选的,所述参数测量模块通过由无限远近红外光源信号模拟装置和专用信号检查台实现的。

与现有技术相比,本发明的有益效果为:

1、本发明模拟无限远光源信号技术取代通常瞄星校准法,避免了依赖天气条件限制,大大缩短了标校时间,效率提高。

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