[发明专利]光谱共焦检测系统及方法有效
申请号: | 201710146983.3 | 申请日: | 2017-03-13 |
公开(公告)号: | CN106767519B | 公开(公告)日: | 2019-02-22 |
发明(设计)人: | 王俊民;廖福秀;贺佳贵;邹志英 | 申请(专利权)人: | 王俊民 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24 |
代理公司: | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人: | 宋南 |
地址: | 256600 山东*** | 国省代码: | 山东;37 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 光谱 检测 系统 方法 | ||
1.一种光谱共焦检测方法,运行于光谱共焦检测装置中,所述光谱共焦检测装置至少包括光谱共焦位移传感器、检测平台、直线电机位移平台和控制模块,所述直线电机位移平台的动子上设置有所述检测平台或所述光谱共焦位移传感器,其特征在于,该方法包括以下步骤:
S1:在控制模块中设置检测类型、所述光谱共焦位移传感器的类型和采样频率;
S2:校准所述光谱共焦检测装置;
S3:同步触发所述直线电机位移平台和所述光谱共焦位移传感器,以预设的扫描间距、扫描长度及采样频率,所述直线电机位移平台采集XY轴的坐标值、所述光谱共焦位移传感器实时同步采集Z轴的坐标值;
S4:完成一次采样后,控制所述直线电机位移平台移动预设的距离,不需要反馈所述直线电机位移平台移动到位的信号,所述光谱共焦位移传感器再次进行采样;
S5:循环步骤S4,得到检测结果。
2.根据权利要求1所述的光谱共焦检测方法,其特征在于,所述检测类型包括检测高度差、平面度、粗糙度和透明件厚度。
3.根据权利要求1所述的光谱共焦检测方法,其特征在于,所述检测类型包括检测物体的二维轮廓、三维形貌。
4.根据权利要求1所述的光谱共焦检测方法,其特征在于,校准所述光谱共焦检测装置的具体步骤为:
所述控制模块发出指令控制所述光谱共焦位移传感器和所述直线电机位移平台自动回到初始位置,所述控制模块自动校准所述初始位置X轴、Y轴、Z轴的坐标,以所述初始位置作为原点;
或者,所述控制模块采集所述光谱共焦位移传感器和所述直线电机位移平台实时位置的X轴、Y轴、Z轴坐标,以所述实时位置作为原点。
5.根据权利要求1-4中任一项所述的光谱共焦检测方法,其特征在于,所述位移平台设置有光栅尺,用于精确控制所述位移平台移动预设的距离。
6.根据权利要求5所述的光谱共焦检测方法,其特征在于,所述光谱共焦位移传感器设置在移动支架上。
7.根据权利要求6所述的光谱共焦检测方法,其特征在于,所述直线电机位移平台沿XY轴移动,所述所述光谱共焦位移传感器沿XYZ轴移动。
8.一种光谱共焦检测系统,其特征在于,包括采样模块和控制模块,所述采样模块至少包括光谱共焦位移传感器、检测平台、直线电机位移平台,所述直线电机位移平台的动子上设置有所述检测平台或所述光谱共焦位移传感器;
所述控制模块包括扫描控制单元,用于设置检测类型、所述光谱共焦位移传感器的类型和采样频率,校准所述采样模块和所述控制模块,以及发出指令同步触发所述直线电机位移平台和所述光谱共焦位移传感器,以预设的扫描间距、扫描长度及采样频率,所述直线电机位移平台采集XY轴的坐标值、所述光谱共焦位移传感器实时同步采集Z轴的坐标值,完成一次采样后,控制所述直线电机位移平台移动预设的距离,不需要反馈所述直线电机位移平台移动到位的信号,控制所述光谱共焦位移传感器再次进行采样,如此循环;
所述控制模块还包括数据处理单元,用于接收、分析和存储得到XYZ轴的坐标值。
9.根据权利要求8所述的光谱共焦检测系统,其特征在于,所述检测类型包括检测高度差、平面度、粗糙度和透明件厚度。
10.根据权利要求8所述的光谱共焦检测系统,其特征在于,所述检测类型包括检测物体的二维轮廓、三维形貌。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于王俊民,未经王俊民许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710146983.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:书写板组件及包括该组件的教学板
- 下一篇:可以画圆形的直尺