[发明专利]基于光学测微原理的高精度量尺在审

专利信息
申请号: 201710146901.5 申请日: 2017-03-13
公开(公告)号: CN108020166A 公开(公告)日: 2018-05-11
发明(设计)人: 廖孟光;李羲;李朝奎;易四海 申请(专利权)人: 湖南科技大学
主分类号: G01B11/08 分类号: G01B11/08;G01B11/12
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 411201 *** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 基于 光学 原理 高精度
【说明书】:

发明公开了基于光学测微原理的高精度量尺,所要解决的问题是如何精确测量隧道、桥洞、房屋、车辆、大型仪器等内外径尺寸。该量尺基于光学测微原理的高精度量尺,包括若干短尺和光学测微器,短尺按其横截面大小共轴地串接成一伸缩体,光学测微器安装在两段短尺连接处横截面较大的短尺上,对准横截面较小的短尺上的刻度,量尺两端平行轴线方向各具有长度一定的内测端,垂直轴线方向各具有长度一定的外测端。伸开量尺,使其内测端抵住空间内壁或者外测端夹住物体外径,因此量尺长度严格为两端点之间距离,同时光学测微器精度很高,共同保证了测量的精度。

技术领域

本发明涉及测量技术领域,尤其是用于隧道、桥洞、房屋、车辆、大型仪器等内外径尺寸精确测量的工具。

背景技术

近年来随着地下工程日益增多,隧道工程的建设正以前所未有的速度增长。如何进一步搞好隧道施工开挖质量的管理是建设者们不断思索、探讨的问题,而隧道断面测量技术的发展为隧道施工提供了一个检测、控制隧道开挖质量的有力手段。

由于隧道内外径的局限性,现代的断面测量方法是采用激光测距仪或者全站仪和计算机的集成断面测量系统来实现,隧道监控量测只能通过实现,这种量测方法的最大精度在毫米级,不能满足某些要求量测精度高的工程项目的要求。

随着社会的进步,工程项目对量测精度的要求也越来越高,桥洞、房屋、车辆、大型仪器等内外径尺寸的测量同样存在上述问题,如何提高内外径尺寸的测量精度成为急需解决的问题。

发明内容

本发明要解决的问题是如何精确测量隧道、桥洞、房屋、车辆、大型仪器等内外径尺寸。

基于光学测微原理的高精度量尺,包括若干短尺和光学测微器,短尺按其横截面大小共轴地串接成一伸缩体,光学测微器安装在两段短尺连接处横截面较大的短尺上,对准横截面较小的短尺上的刻度,量尺两端平行轴线方向各具有长度一定的内测端,垂直轴线方向各具有长度一定的外测端。 优选地,所有短尺中,横截面最小的短尺为空心或实心,其它短尺均为空心。 优选地,短尺的数量是三段,光学测微器的数量是二个,光学测微器的底部是透明玻璃基座。 优选地,短尺的刻度位于凹陷的刻度槽内。

优选地,短尺的横截面为正三角形。 优选地,量尺缩短时长度为2.0-3.5m,伸长时长度为缩短时的三倍。

伸开量尺,使其内测端抵住空间内壁或者外测端夹住物体外径,因此量尺长度严格为两端点之间距离,同时光学测微器精度很高,共同保证了测量的精度。同时,光学测微器与配套的刻度成本低廉,有效控制了量尺的生产成本。

附图说明

图1是基于光学测微原理的高精度量尺的整体结构示意图;

图2是刻度和刻度槽局部放大结构示意图;

图中:1.短尺,2.光学测微器,3.刻度,4.刻度槽,5.内测端,6,外测端,7透明玻璃基座。具体实施方式

如附图1-2所示,基于光学测微原理的高精度量尺,包括若干短尺和光学测微器,短尺按其横截面大小共轴地串接成一伸缩体,光学测微器安装在两段短尺连接处横截面较大的短尺上,对准横截面较小的短尺上的刻度,量尺两端平行轴线方向各具有长度一定的内测端,垂直轴线方向各具有长度一定的外测端。

伸开量尺,使其内测端抵住空间内壁或者外测端夹住物体外径,因此量尺长度严格为两端点之间距离;同时光学测微器精度很高,共同保证了测量的精度。所测距离等于量尺缩短时是原长加上各光学测微器上读取的量尺伸长长度。

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