[发明专利]铁磁共振的测试装置和方法

说明书

本发明公开了一种铁磁共振的测试装置和方法。其中，该铁磁共振的测试装置包括：基座和设置于所述基座上的样品装载组件，其中，所述样品装载组件，包括：平移组件、第一旋转组件和用于承载待测样品的样品平台；所述第一旋转组件与所述样品平台连接，并带动所述样品平台在所述样品平台所在第一平面的任意角度内旋转；所述平移组件与所述样品平台连接，用于移动所述样品平台以分离所述待测样品和平面波导。

技术领域

本发明涉及铁磁共振测量领域，具体而言，涉及一种铁磁共振的测试装置和方法。

背景技术

目前，铁磁共振的测试方案主要有以下几种：谐振腔铁磁共振技术，宽频铁磁共振技术，角度分辨铁磁共振技术。在测试当中，样品相对固定磁场的取向是一个极为重要的实验参数，取向可调的铁磁共振技术被称为角度分辨铁磁共振系统。当磁场固定时，样品的取向可调是角度分辨铁磁共振技术的关键。

但是，现有的铁磁共振测量存在一定的盲区，例如：由于测试时待测样品和平面波导必须紧密接触，并且微波线缆和平面波导系统不能在测试过程中有任何弯曲，变形和振动，因此，现有测试方案难以实现任意角度的测试，并不是真正意义上的角度分辨铁磁共振，另外，相关局限性除了驱动力随角度变化外，还源于磁场空间位于磁极狭小空隙之间，不可弯折的高频线缆转动过程中必然有一个维度会碰撞磁体。例如，图1a和图1b所示，现有的角度分辨测试方案存在只能进行面内旋转或面外旋转，这样，由于受空间限制，不能实现两个维度的联合操作，从而会存在显著的测试盲区。

针对上述的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本发明实施例提供了一种铁磁共振的测试装置和方法，以至少解决相关技术中铁磁共振测试存在测试盲区的技术问题。

根据本发明实施例的一个方面，提供了一种铁磁共振的测试装置，该测试装置包括：基座和设置于所述基座上的样品装载组件，其中，所述样品装载组件，包括：平移组件、第一旋转组件和用于承载待测样品的样品平台；所述第一旋转组件与所述样品平台连接，并带动所述样品平台在所述样品平台所在第一平面的任意角度内旋转；所述平移组件与所述样品平台连接，用于移动所述样品平台以分离所述待测样品和平面波导。

可选地，所述测试装置还包括：第二旋转组件，设置于所述基座上，用于在所述第二旋转组件所在第二平面内沿任意角度旋转，以带动所述样品装载组件旋转。

根据本发明实施例的另一方面，还提供了一种铁磁共振的测试方法，包括：在对待测样品进行测试过程中，将所述待测样品和平面波导进行分离，并在所述待测样品所在平面内旋转所述待测样品到任意角度，再将所述待测样品装载到所述平面波导。

可选地，在所述待测样品所在平面内旋转所述待测样品时，所述方法还包括：将所述待测样品在与所述样品所在平面垂直的平面内进行旋转。

在本发明实施例中，采用在测试装置的样品装载组件中设置平移组件、第一旋转组件和用于承载待测样品的样品平台的技术手段，由于所述第一旋转组件与可以带动所述样品平台在所述样品平台所在第一平面的任意角度内旋转，并且所述平移组件可以移动所述样品平台以分离所述待测样品和平面波导，因此，可以实现在测试过程中待测样品和平面波导的分离，从而实现了无测试盲区的技术效果，进而解决了相关技术中铁磁共振测试存在测试盲区的技术问题。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1a是根据相关技术的一种在进行铁磁测试时待测样品进行面内旋转的示意图；

图1b是根据相关技术的一种在进行铁磁测试时待测样品进行面外旋转的示意图；

图2是根据本发明实施例的一种铁磁共振的测试装置的结构示意图；