[发明专利]复合式产品测试系统及其测试方法有效

专利信息
申请号: 201710120695.0 申请日: 2017-03-02
公开(公告)号: CN108535556B 公开(公告)日: 2021-01-22
发明(设计)人: 张建中;余宏斌;陈裕仁;罗文仁;刘志彦 申请(专利权)人: 台达电子工业股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 王玉双;李岩
地址: 中国台湾*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 复合 产品 测试 系统 及其 方法
【说明书】:

一种复合式产品测试系统,包括主管理程序、测试设备及老化设备,其中测试设备及老化设备设置于复合式产品测试系统的老化房内。首先将待测产品分别插上老化房中的多个治具,并启动老化程序以提供老化环境。主管理程序控制其中一组治具连接至测试设备,以由测试设备对所连接的治具上的待测产品进行测试。于测试完成后,主管理程序控制治具脱离与测试设备的连接并恢复与老化设备的连接。接着主管理程序控制在所有待测产品皆测试完毕前,依次控制下一组治具与老化设备以及测试设备的连接与脱离,以在老化程序同时完成各待测产品的测试程序。

技术领域

发明涉及产品的测试系统,尤其涉及复合式产品测试系统,以及其测试方法。

背景技术

在产品的生产过程中,确保生产后的产品能够正常运作是相当重要的。因此,各类产品在生产完成后,通常会通过一或多个的测试设备来进行产品的各种能力的测试动作(以电子产品为例,可例如为噪声测试、保护测试、高压测试等)。并且,部分产品还会藉由老化设备来缩短产品老化的时间,藉此测试产品在长时间的使用后是否会发生改变。

请参阅图1,为相关技术的测试环境示意图。一般来说,产品生产完成后,生产者会先将产品放进一第一测试设备(Automotive Test System,ATS)11中进行测试。具体地,该第一测试设备11是对产品进行如前述的噪声测试、保护测试、高压测试等测试,以判断所生产的产品是否为良品。

待该第一测试设备11测试完成后,生产者接着将产品放进一产品老化设备12,以对产品执行一老化程序。具体地,该产品老化设备12可为一老化房(Burn-in Chamber),该老化房中的温度、湿度等可经过调整而提供一老化环境。该老化环境可使得产品老化的时间缩短,进而在短时间内得到产品在经过长时间的使用后的状态。

待该老化程序完成后,生产者再接着将产品放进一第二测试设备13中再次进行测试。藉此,可测试产品在长时间的使用(即,经过该老化程序)之后,是否仍可维持正常运作。

如上所述,于相关技术的测试方式中,产品必须依次经过生产后的第一次测试、老化程序、以及老化程序后的第二次测试,因此,整个测试过程相当耗时。

举例来说,该第一测试设备11与该第二测试设备13的治具一次可插入两个产品同时进行测试,且一次测试需耗时三分钟,而该产品老化设备12(即,老化房)的治具一次可插入一百个产品同时进行该老化程序,且该老化程序一次需耗时两小时。

于上述实施例中,一百个产品所需的完整测试时间将为:(100/2)*3+60*2+(100/2)*3=420分钟。由于该第一测试设备11一次只能对两个产品进行测试,因此必须等到所有产品的第一次测试都完成后,才能进行该老化程序。如此一来,将会耗费许多不必要的等待时间。

再者,于实际测试过程中,每一个产品皆需依次进行下列动作:(1)插入该第一测试设备11的治具;(2)于第一次测试完成后,从该第一测试设备11的治具上卸下;(3)插入该产品老化设备12的治具;(4)于老化程序完成后,从该产品老化设备12的治具上卸下;(5)插入该第二测试设备13的治具;及(6)于第二次测试完成后,从该第二测试设备13的治具上卸下。

由上述说明可看出,为了进行测试,每一个产品皆需上/下治具三次,如此不但需额外浪费产品上/下治具的时间,且上/下治具的次数过多还可能会增加产品或治具受损的风险,不但徒增成本,还容易使测试结果不准确。

发明内容

本发明的主要目的,在于提供一种复合式产品测试系统及其测试方法,可在进行老化(Burn-in)程序的同时完成待测产品所需的测试程序。

为了达成上述的目的,本发明的复合式产品测试系统主要包括一主管理程序、一测试设备及一老化设备,其中该测试设备及该老化设备共同设置于该复合式产品测试系统的一老化房(Burn-in Chamber)内。

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