[发明专利]一种模拟的高铁场景下终端测试方法有效

专利信息
申请号: 201710110902.4 申请日: 2017-02-28
公开(公告)号: CN108513307B 公开(公告)日: 2021-08-06
发明(设计)人: 张翔;李雷;陈凯;杨思远;郭凤然;徐菲;魏贵明 申请(专利权)人: 工业和信息化部电信研究院
主分类号: H04W16/22 分类号: H04W16/22;H04W24/08;H04W88/08
代理公司: 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 代理人: 谢安昆;宋志强
地址: 100191 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 模拟 场景 终端 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种模拟的高铁场景下终端测试方法,其特征在于,该方法包括:

模拟N个高铁基站,针对每个高铁基站设置2个射频拉远单元RRU,每个RRU连接独立的天线阵列,每个高铁基站上的天线阵列指向不同;配置M个基带处理单元BBU与2N个RRU连接;

在信道模拟器中建立信道模型时,将第n个高铁基站和第n+1个高铁基站之间的铁轨按照等距离间距划分为L段,根据终端的终端芯片在模拟铁轨中的位置计算每段的首、尾两点的大尺度衰落和小尺度衰落,通过插值周期将L段分别划分子段,每个子段的大尺度衰落、小尺度衰落采用所在段的首尾两点的大尺度、小尺度衰落通过线性插值获得;

信道模拟器通过M×Tx个端口连接RRU,将同一个BBU连接的不同RRU的信号衰落建模成不同的簇,由信道模拟器端口模拟;与移动终端的芯片连接的端口数同终端的芯片的天线数相同;Tx为RRU连接的天线阵列数;

终端与高铁基站通过所述信道模拟器进行通信,对终端的终端芯片和高铁基站的功能和性能进行测试;

其中,所述方法进一步包括:

同一BBU下不同RRU的信号经历的衰落模拟成不同的簇,每簇的功率包括RRU与终端的芯片的位置计算大尺度衰落和小尺度衰落;对第m个BBU与终端之间的簇数目C×nm个簇的功率进行从大到小的排序,取功率最大的前K个簇进行模拟,其中,K为信道模拟器支持的最大簇数目,nm为第m个BBU内的RRU的数目,C为建立簇延时模型的簇数目;

其中,所述方法进一步包括:

针对小尺度衰落计算时,对于时刻t,每个RRU和终端芯片之间直射簇的到达角φt和离开角由RRU和终端在当前时刻的相对地理位置根据全局坐标系计算获得;

当簇延时线模型的簇数目为C时,不同簇的到达角为{φ12,L,φC},离开角为

到达角时刻t的偏移角Δφt=φ1t,修正后的时刻t的到达角为{φ1-Δφt2-Δφt,L,φC-Δφt};离开角时刻t的偏移角修正后的时刻t的到达角为

当簇时延模型的各簇时延为{σ12,L,σC},且时刻t,RRU与终端芯片之间的距离为dt,时刻t的时延偏移为其中Vsun为光速,则修正后的时刻t的各簇时延为{σ1-Δσt2-Δσt,L,σC-Δσt}。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述通过插值周期将L段分别划分子段,每个子段的大尺度衰落、小尺度衰落采用所在段的首尾两点的大尺度、小尺度衰落通过线性插值获得,包括:

针对L段中的第l段,若终端芯片位于的高铁列车通过第l段的时间为tl,根据插值周期Ts将第l段等分为个子段,每个子段的大尺度、小尺度衰落采用第l段首、尾两点的大尺度、小尺度衰落通过线性插值获得;其中,插值周期fc为高铁系统的中心频点,Vsun为光速,v为终端芯片所在高铁的运动速度,pλ为半波长内的采样点数目,Tc为信道模拟器支持的最小信道更新周期。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述大尺度衰落包括:路径损耗、阴影衰落和基站天线增益。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,

所述路径损耗其中,A=17.02,B=42.19,C=20,X为车厢穿透损耗,d为RRU与终端芯片之间的三维空间距离,fc为高铁系统的中心频点。

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