[发明专利]一种模拟的高铁场景下终端测试方法有效
申请号: | 201710110902.4 | 申请日: | 2017-02-28 |
公开(公告)号: | CN108513307B | 公开(公告)日: | 2021-08-06 |
发明(设计)人: | 张翔;李雷;陈凯;杨思远;郭凤然;徐菲;魏贵明 | 申请(专利权)人: | 工业和信息化部电信研究院 |
主分类号: | H04W16/22 | 分类号: | H04W16/22;H04W24/08;H04W88/08 |
代理公司: | 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 | 代理人: | 谢安昆;宋志强 |
地址: | 100191 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 模拟 场景 终端 测试 方法 | ||
1.一种模拟的高铁场景下终端测试方法,其特征在于,该方法包括:
模拟N个高铁基站,针对每个高铁基站设置2个射频拉远单元RRU,每个RRU连接独立的天线阵列,每个高铁基站上的天线阵列指向不同;配置M个基带处理单元BBU与2N个RRU连接;
在信道模拟器中建立信道模型时,将第n个高铁基站和第n+1个高铁基站之间的铁轨按照等距离间距划分为L段,根据终端的终端芯片在模拟铁轨中的位置计算每段的首、尾两点的大尺度衰落和小尺度衰落,通过插值周期将L段分别划分子段,每个子段的大尺度衰落、小尺度衰落采用所在段的首尾两点的大尺度、小尺度衰落通过线性插值获得;
信道模拟器通过M×Tx个端口连接RRU,将同一个BBU连接的不同RRU的信号衰落建模成不同的簇,由信道模拟器端口模拟;与移动终端的芯片连接的端口数同终端的芯片的天线数相同;Tx为RRU连接的天线阵列数;
终端与高铁基站通过所述信道模拟器进行通信,对终端的终端芯片和高铁基站的功能和性能进行测试;
其中,所述方法进一步包括:
同一BBU下不同RRU的信号经历的衰落模拟成不同的簇,每簇的功率包括RRU与终端的芯片的位置计算大尺度衰落和小尺度衰落;对第m个BBU与终端之间的簇数目C×nm个簇的功率进行从大到小的排序,取功率最大的前K个簇进行模拟,其中,K为信道模拟器支持的最大簇数目,nm为第m个BBU内的RRU的数目,C为建立簇延时模型的簇数目;
其中,所述方法进一步包括:
针对小尺度衰落计算时,对于时刻t,每个RRU和终端芯片之间直射簇的到达角φt和离开角由RRU和终端在当前时刻的相对地理位置根据全局坐标系计算获得;
当簇延时线模型的簇数目为C时,不同簇的到达角为{φ1,φ2,L,φC},离开角为
到达角时刻t的偏移角Δφt=φ1-φt,修正后的时刻t的到达角为{φ1-Δφt,φ2-Δφt,L,φC-Δφt};离开角时刻t的偏移角修正后的时刻t的到达角为
当簇时延模型的各簇时延为{σ1,σ2,L,σC},且时刻t,RRU与终端芯片之间的距离为dt,时刻t的时延偏移为其中Vsun为光速,则修正后的时刻t的各簇时延为{σ1-Δσt,σ2-Δσt,L,σC-Δσt}。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述通过插值周期将L段分别划分子段,每个子段的大尺度衰落、小尺度衰落采用所在段的首尾两点的大尺度、小尺度衰落通过线性插值获得,包括:
针对L段中的第l段,若终端芯片位于的高铁列车通过第l段的时间为tl,根据插值周期Ts将第l段等分为个子段,每个子段的大尺度、小尺度衰落采用第l段首、尾两点的大尺度、小尺度衰落通过线性插值获得;其中,插值周期fc为高铁系统的中心频点,Vsun为光速,v为终端芯片所在高铁的运动速度,pλ为半波长内的采样点数目,Tc为信道模拟器支持的最小信道更新周期。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述大尺度衰落包括:路径损耗、阴影衰落和基站天线增益。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,
所述路径损耗其中,A=17.02,B=42.19,C=20,X为车厢穿透损耗,d为RRU与终端芯片之间的三维空间距离,fc为高铁系统的中心频点。
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