[发明专利]一种测试EventLog状态的方法及装置

说明书

本发明涉及系统测试领域，公开一种测试EventLog状态的方法，包括以下步骤：编写测试EventLog状态的程序；运行测试EventLog状态的程序；读取EventLog状态，并判断是否出现告警。还公开一种测试EventLog状态的装置，包括：编写模块，用于编写测试EventLog状态的程序；运行模块，用于运行测试EventLog状态的程序；判断模块，用于读取EventLog状态，并判断是否出现告警。本发明基于EventLog状态的变化，设计出能重复生成日志到设定的测试日志条数，从而判断EventLog状态的程序，最终完成EventLog各状态变化的测试。

技术领域

本发明涉及系统测试领域，尤其涉及一种测试EventLog状态的方法及装置。

背景技术

EventLog的状态可以直接反应出系统日志的存储情况，正常存储时，硬件监控模块下，EventLog的状态显示正常，客户可以通过BMC web或者IPMI命令查看机器的日志存储情况，以此来判断机器的健康状态。由于存储空间有限，目前EventLog按照记录条数计算，最大支持3639条日志存储，根据日志存储策略，当日志条数达到或者接近2736时，EventLog状态会发生变化，出现日志将满的告警“Log almost full”，当日志条数达到最大值3639时，出现日志已满的告警“Log full”。需要一种测试EventLog状态的方法，测试系统的EventLog各状态的变化，从而能更好的进行机器系统的运行和维护。

发明内容

本发明针对目前需求以及现有技术发展的不足之处，提供一种测试EventLog状态的方法及装置，本发明基于EventLog状态的变化，设计出能重复生成日志到设定的测试日志条数，从而判断EventLog状态的程序，最终完成EventLog各状态变化的测试。

为了实现上述目的，本发明采用以下的技术方案：

编写测试EventLog状态的程序；

运行测试EventLog状态的程序；

读取EventLog状态，并判断是否出现告警。

优选的，所述EventLog状态是指BMC的日志存储状态。

优选地，编写测试EventLog状态的程序，包括：

定义存放日志的文本文档；

设定测试日志将满状态的日志条数；

设定测试日志已满状态的日志条数；

定义保存测试EventLog状态结果的测试结果文档。

优选地，在编写测试EventLog状态的程序之后，还包括：

对编写的测试EventLog状态的程序进行编译。

优选地，运行测试EventLog状态的程序，包括：

通过host端输入待测机的IP地址；

清除BMC存储的现有日志；

增加日志，并保存在用来存放日志的文本文档内。

优选地，读取EventLog状态，并判断是否出现告警，包括：

当存储的日志条数达到设定的测试日志将满状态的日志条数时，判断EventLog状态是否出现日志将满的告警，若是，则输出日志将满状态测试通过的提示信息、将测试结果保存在测试结果文档内并继续增加日志进行日志已满状态的测试判断，若否，则输出日志将满状态测试失败的提示信息；