[发明专利]用于光学电压传感器的主动噪声抑制

权利要求书

1.一种测试和测量仪器的传感器头，包括：

输入端，所述输入端被配置为从被测试器件（DUT）接收输入信号；

光学电压传感器，所述光学电压传感器具有信号输入电极和控制电极，其中，所述输入端连接到所述信号输入电极；以及

偏置控制单元，所述偏置控制单元连接到所述控制电极并且被配置为减小误差信号。

2.根据权利要求1所述的传感器头，其中，所述偏置控制单元被配置为消除误差控制信号。

3.根据权利要求1所述的传感器头，还包括光电二极管，所述光电二极管被配置为测量所述光学电压传感器的光输出功率V_pd。

4.根据权利要求3所述的传感器头，还包括校正块，所述校正块被配置为将测量的光输出功率V_pd与参考信号V_in进行比较。

5.根据权利要求4所述的传感器头，其中，所述参考信号V_in是输入信号。

6.根据权利要求4所述的传感器头，其中，所述校正块还被配置为基于所述比较来识别误差信号。

7.根据权利要求4所述的传感器头，还包括耦接在所述校正块与所述输入端之间的缓冲器。

8.根据权利要求1所述的传感器头，其中，所述光学电压传感器被配置为经由下游光纤与外部控制器的输出块耦接。

9.根据权利要求1所述的传感器头，其中，所述光学电压传感器被配置为经由上游光纤与外部控制器的激光源耦接。

10.根据权利要求1所述的传感器头，其中，所述光学电压传感器是马赫-曾德尔光学传感器。

11.一种测量系统，包括：

主机；

控制器，所述控制器与所述主机电气耦接；

被测试器件（DUT）；

传感器头，所述传感器头电气耦接在所述控制器与所述DUT之间，所述传感器头包括：

输入端，所述输入端被配置为从DUT接收输入信号；

光学电压传感器，所述光学电压传感器具有信号输入电极和控制电极，其中，所述输入端连接到所述信号输入电极；以及

偏置控制单元，所述偏置控制单元连接到所述控制电极并且被配置为减小误差信号。

12.根据权利要求11所述的测量系统，还包括光电二极管，所述光电二极管被配置为测量所述光学电压传感器的光输出功率V_pd。

13.根据权利要求12所述的测量系统，还包括校正块，所述校正块被配置为将测量的光输出功率V_pd与参考信号V_in进行比较。

14.根据权利要求13所述的测量系统，还包括校正块，所述校正块被配置为基于所述比较来识别误差信号。

15.根据权利要求11所述的测量系统，其中，所述光学电压传感器被配置为经由下游光纤与控制器的输出块耦接。

16.根据权利要求11所述的测量系统，其中，所述光学电压传感器被配置为经由上游光纤与控制器的激光源耦接。

17.根据权利要求11所述的测量系统，其中，所述光学电压传感器是马赫-曾德尔光学传感器。

18.一种用于测试测量系统的方法，所述测试测量系统包括主机、控制器、传感器头和被测试器件，所述方法包括：

接收来自被测试器件（DUT）的输入信号；

测量所述传感器头的光电二极管的光输出功率；

将测量的光输出功率与参考信号进行比较；

基于所述比较来识别误差信号；以及

减小所述误差信号。

19.一种测试和测量仪器的传感器头，包括：

输入端，所述输入端被配置为从被测试器件（DUT）接收输入信号；以及

具有一组电极的光学电压传感器，其中，所述输入信号被配置为与误差校正信号组合并且被施加到所述一组电极。